Spectroscopic and chemical imaging analysis of lithium iron triphosphate

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 111, Issue 2, 2007, Pages 1049-1054

  Ramana, C V ^a   Ait Salah, A ^b   Utsunomiya, S ^a   Morhange, J F ^b   Mauger, A ^c   Gendron, F ^b   Julien, C M ^b  

^a UNIVERSITY OF MICHIGAN   (United States)

^b INSTITUT DES NANOSCIENCES DE PARIS   (France)

^c CNRS   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHEMICAL IMAGING; MONOCLINIC STRUCTURE; OXO ANIONIC GROUPS; VALENCE STATES;

AMORPHOUS CARBON; CRYSTAL CHEMISTRY; ENERGY DISPERSIVE X RAY ANALYSIS; IMAGE ANALYSIS; SPECTROSCOPIC ANALYSIS; SYNTHESIS (CHEMICAL); VALENCE BANDS; X RAY DIFFRACTION;

LITHIUM COMPOUNDS;

EID: 33847679667     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp065072c     Document Type: Article

References (45)

1. Nanjundaswamy, K. S.; Padhi, A. K.; Goodenough, J. B.; Okada, S.; Ohtsuka, H.; Arai, H.; Yamaki J. Solid Stare Ionics 1996, 92, 1.
2. Padhi, A. K.; Nanjundaswamy, K. S.; Goodenough, J. B. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 1188.
3. Ravet, N.; Chouinard, Y.; Magnan, J. F.; Besner, S.; Gauthier, M.; Armand, M. J. Power Sources 2001, 97, 503.
4. Huang, H.; Yin, S. C.; Nazar, L. F. Electrochem. Solid-State Lett. 2001, 4, A170.
5. Ait-Salah, A.; Mauger, A.; Zaghib, K.; Goodenough, J. B.; Ravet, N.; Gauthier, M.; Gendron, F.; Julien, C. M. J. Electrochem. Soc. 2006, 153, A1692.
6. Zaghib, K.; Striebel, K.; Guerfi, A.; Shim, J.; Armand, M.; Gauthier, M. Electrochim. Acta 2004, 50, 263.
7. Ait-Salah, A.; Mauger, A.; Julien, C. M.; Gendron, F. Mater. Sci. Eng., B 2006, 129, 232.
8. Zaghib, K.; Battaglia, V.; Charest, P.; Srinivasan, V.; Guerfi, A.; Kostecki, R. Extended Abstracts of the IBA-HBC Meeting, Hawai, 2006.
9. Corbridge, D. E. C.; Tromans, E. R. Anal. Chem. 1958, 30, 1101.
10. Averbuch-Pouchot, M. T.; Durif, A. J. Appl. Crystallogr. 1975, 8, 564.
11. Jouini, O.; Dabbabi, M.; Averbuch-Pouchot, M. T.; Durif, A.; Guitel, J. C. Acta Crystallogr., Sect. C 1984, 40, 728.
12. Erragh, F.; Boukhari, A.; Holt, E. M. Acta Crystallogr., Sect. C 1996, 52, 1867.
13. Rissouli, K.; Benkhouja, K.; Sadel, A.; Bettach, M.; Zahir, M.; Giorgi, M.; Pierrot, M.; Drillon, M. Eur. J. Solid State Inorg. Chem. 1997, 34, 221.
14. Cruickshank, D. W. J. Acta Crystallogr. Danem. 1964, 13, 263.
15. Utsunomiya, S.; Palenik, C. S.; Ewing, R. C. In Encyclopedia of Nanoscience and Nanatechnology; Schwartz, J. A., Contescu, C. S., Putyera, K., Eds.; Marcel Dekker Inc.: New York, 2004; p 1087.
16. Ramana, C. V.; Ait-Salah, A.; Utsunomiya, S.; Becker, U.; Mauger, A.; Gendron, F.; Julien, C. M. Chem. Mater. 2006, 18, 3788.
17. Spahr, M. E.; Novak, P.; Schnyder, B.; Hass, O.; Nesper. R. J. Electrochem. Soc. 1998, 145, 1113.
18. Shaju, K. M.; Subba Rao, G. V.; Chowdari, B. V. R. Electrochim. Acta 2003, 48, 1505.
19. Ramana, C. V.; Massot, M.; Julien, C. M. Surf. Interface Anal. 2005, 37, 412.
20. Madhavi, S.; Subba Rao, G. V.; Chowdari, B. V. R.; Li, S. F. Y. J. Electrochem. Soc. 2001, 148, 1279.
21. Herstedt, M.; Stjerndahl, M.; Nyten, A.; Gustafsson, T.; Rensmo, H.; Siegbahn, H.; Ravet, N.; Armand, M.; Thomas, J. O.; Edstrom, K. Electrochem. Solid-State Lett. 2003, 6, A202.
22. Manickam, M.; Singh. P.; Thurgate, S.; Prince, K. J. Power Sources 2006, 158, 646.
23. Rendek, L. J., Jr.; Chottiner, G. S.; Scherson, D. A. J. Electrochem. Soc. 2002, 149, E408.
24. Zavadil, K. R.; Armstrong, N. R. Surf. Sci. 1990, 230, 47.
25. Hoenigman, J. R.; Keil, R. Appl. Surf. Sci. 1984, 18, 207.
26. Ro, C.; Linton, R. W. Surf. Sci. Spectra 1992, 1, 227.
27. Anderson, A. M.; Edstrom, K. J. Electrochem. Soc. 2001, 148, A1100.
28. Wagner, C. D.; Riggs, W. M.; Davis, L. E.; Moulder, J. F.; Muielenberg, C. E. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Physical Electronics Industries: New York, 1976.
29. Eriksson, T.; Andersson, A. M.; Bishop, A. G.; Gejke, C.; Gustafsson, T.; Thomas, J. O. J. Electrochem. Soc. 2002, 149, A69.
30. Dupin, J. C.; Gonbeau, D.; Vinatier, P.; Levasseur, A. Phys. Chem. Chem. Phys. 2000, 2, 1319.
31. Ota, H.; Sakata, Y.; Wang, X.;. Sasahara, J.; Yasukawa, E. J. Electrochem. Soc. 2004, 151, A437.
32. Nyten, A.; Stendhal, M.; Rensmo, H.; Siegbahn, H.; Armand, M.; Gustafsson, T.; Edstrom, K.; Thomas, J. O. J. Mater. Chem. 2006, 16, 3483.
33. Briggs, D.; Seah, M. P. Practical Surface Analysis by Auger and XPS; Wiley: New York, 1985, p 37.
34. Morgan, W. E.; Van Wazer, J. R.; Stec, W. J. J. Am. Chem. Soc. 1973, 95, 751.
35. Kumagai, N.; Fujiwara, T.; Tanno, K.; Horiba, T. J. Electrochem. Soc. 1996, 143, 1007.
36. Asunskis, A. L.; Gaskell, K. J.; Asunskis, D. J.; Sherwood, P. M. A. J. Vac. Sci. Technol., A 2003, 21, 1126.
37. Gaskell, K. J.; Smith, M. M.; Sherwood, P. M. A. J. Vac. Sci. Technol., A 2004, 22, 1331.
38. Asunskis, D. J.; Sherwood, P. M. A. J. Vac. Sci. Technol., A 2006, 24, 1179.
39. Asunskis, D. J.; Sherwood, P. M. A. J. Vac. Sci. Technol., A 2003, 21, 1133.
40. Rotole, J. A.; Sherwood, P. M. A. Chem. Mater. 2001, 13, 3933.
41. Ait-Salah, A.; Jozwiak, P.; Garbarczyk, J.; Benkhouja, K.; Zaghib, K.; Gendron, F.; Julien, C. M. J. Power Sources 2005, 140, 370.
42. Burba, C. M.; Frech, R. J. Electrochem. Soc. 2004, 151, A1032.
43. Knight, D. S.; White, W. B. J. Mater. Res. 1989, 4, 385.
44. Yoshikawa, M.; Katagani, G.; Ishida, H.; Ishitami, A.; Akamatsu, T. Appl. Phys. Lett. 1988, 52, 1639.
45. Tamor, M. A.; Vassell, W. C. J. Appl. Phys. 1994, 76, 3823.