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Volumn 70, Issue 2, 2007, Pages 290-299

Examination of the 16O + 28Si system with microscopic and phenomenological potentials

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24.10.Eq; 24.10.Ht; 24.50.+g

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EID: 33847362368     PISSN: 10637788     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1134/S106377880702010X     Document Type: Article
Times cited : (2)

References (31)
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    • S. Kahana, B. T. Kim, andM.Mermaz, Phys. Rev. C 20, 2124 (1979).
    • S. Kahana, B. T. Kim, andM.Mermaz, Phys. Rev. C 20, 2124 (1979).


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.