메뉴 건너뛰기




Volumn 2005, Issue , 2005, Pages 346-349

A 5-in. flexible TFT-LCD using transfer technique

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ARRAYS; THICKNESS MEASUREMENT; THIN FILM TRANSISTORS;

EID: 33846629448     PISSN: 10831312     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (7)

References (9)
  • 1
    • 33846616690 scopus 로고    scopus 로고
    • Hioki, T., et al., IDW '02, p.319 (2002).
    • Hioki, T., et al., IDW '02, p.319 (2002).
  • 2
    • 33846614422 scopus 로고    scopus 로고
    • Kim, S. B., et al., SID '04 DIGEST, p. 19 (2004).
    • Kim, S. B., et al., SID '04 DIGEST, p. 19 (2004).
  • 3
    • 33846608979 scopus 로고    scopus 로고
    • Chikama, Y., et al., IDW '04 DIGEST, p. 375 (2004).
    • Chikama, Y., et al., IDW '04 DIGEST, p. 375 (2004).
  • 4
    • 33846563315 scopus 로고    scopus 로고
    • Jang J., et al., SID '05 DIGEST, p. 10 (2005).
    • Jang J., et al., SID '05 DIGEST, p. 10 (2005).
  • 5
    • 33846639481 scopus 로고    scopus 로고
    • Hong, P. M., et al., SID '05 DIGEST, p. 23 (2005).
    • Hong, P. M., et al., SID '05 DIGEST, p. 23 (2005).
  • 6
    • 33846622679 scopus 로고    scopus 로고
    • Reynolds, K., et al., IDW '04 DIGEST, p. 367 (2004).
    • Reynolds, K., et al., IDW '04 DIGEST, p. 367 (2004).
  • 9
    • 33846606174 scopus 로고    scopus 로고
    • Onozuka, Y., et al., SID '05 DIGEST, p. 1254 (2005).
    • Onozuka, Y., et al., SID '05 DIGEST, p. 1254 (2005).


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.