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Volumn 28, Issue 6, 2006, Pages 893-898

Thermo-fatigue life prediction methodologies for SnAgCu solder joints in flip-chip assemblies

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Flip chip; Lead free; Life prediction; Solder joint; Thermo fatigue

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EID: 33846363599     PISSN: 10019669     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.