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Volumn 445, Issue 7125, 2007, Pages 268-270

Semiconductor electronics: Trapped fast at the gate

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SILICON;

EID: 33846291387     PISSN: 00280836     EISSN: 14764687     Source Type: Journal    
DOI: 10.1038/445268a     Document Type: Short Survey
Times cited : (32)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.