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Volumn 5, Issue 1-2, 1995, Pages 1-7

High-resolution electron microscopy and X-ray diffraction studies of MCM-48

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High resolution electron microscopy; M41S; MCM 48; Pore architecture; X ray diffraction

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EID: 33845511963     PISSN: 09276513     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/0927-6513(95)00030-D     Document Type: Article
Times cited : (89)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.