-
2
-
-
0038083067
-
-
Y. K. Su, S. J. Chang, C. H. Chen, J. F. Chen, G. C. Chi, J. K. Sheu, W. C. Lai, and J. M. Tsai, IEEE Sens. J., 2, 366 (2002).
-
(2002)
IEEE Sens. J.
, vol.2
, pp. 366
-
-
Su, Y.K.1
Chang, S.J.2
Chen, C.H.3
Chen, J.F.4
Chi, G.C.5
Sheu, J.K.6
Lai, W.C.7
Tsai, J.M.8
-
4
-
-
31144460213
-
-
S. J. Chang, T. K. Lin, Y. K. Su, Y. Z. Chiou, C. K. Wang, S. P. Chang, C. M. Chang, J. J. Tang, and B. R. Huang, Mater. Sci. Eng., B, 127, 164 (2006).
-
(2006)
Mater. Sci. Eng., B
, vol.127
, pp. 164
-
-
Chang, S.J.1
Lin, T.K.2
Su, Y.K.3
Chiou, Y.Z.4
Wang, C.K.5
Chang, S.P.6
Chang, C.M.7
Tang, J.J.8
Huang, B.R.9
-
5
-
-
11044231783
-
-
T. M. Barnes, J. Leaf, S. Hand, C. Fry, and C. A. Wolden, J. Appl. Phys., 96, 7036 (2004).
-
(2004)
J. Appl. Phys.
, vol.96
, pp. 7036
-
-
Barnes, T.M.1
Leaf, J.2
Hand, S.3
Fry, C.4
Wolden, C.A.5
-
6
-
-
0142063471
-
-
H. Kato, M. Sano, K. Miyanoto, and T. Yao, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, 42, L1002 (2003).
-
(2003)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.42
, pp. 1002
-
-
Kato, H.1
Sano, M.2
Miyanoto, K.3
Yao, T.4
-
7
-
-
0346910469
-
-
Y. I. Alivov, E. V. Kalinina, A. E. Cherenkov, D. C. Look, B. M. Ataev, A. K. Omaev, M. V. Chukichev, and D. M. Bagnall, Appl. Phys. Lett., 83, 4719 (2003).
-
(2003)
Appl. Phys. Lett.
, vol.83
, pp. 4719
-
-
Alivov, Y.I.1
Kalinina, E.V.2
Cherenkov, A.E.3
Look, D.C.4
Ataev, B.M.5
Omaev, A.K.6
Chukichev, M.V.7
Bagnall, D.M.8
-
8
-
-
0035333303
-
-
S. Liang, H. Sheng, Y. Liu, Z. Huo, Y. Lu, and H. Shen, J. Cryst. Growth, 225, 110 (2001).
-
(2001)
J. Cryst. Growth
, vol.225
, pp. 110
-
-
Liang, S.1
Sheng, H.2
Liu, Y.3
Huo, Z.4
Lu, Y.5
Shen, H.6
-
9
-
-
0029293262
-
-
A. Mang, K. Reimann, and St. Rübenacke, Solid State Commun., 94, 251 (1995).
-
(1995)
Solid State Commun.
, vol.94
, pp. 251
-
-
Mang, A.1
Reimann, K.2
Rübenacke, St.3
-
10
-
-
7044225002
-
-
A. Setiawan, Z. Vashaei, M. W. Cho, T. Yao, H. Kato, M. Sano, K. Miyamoto, I. Yonenaga, and H. J. Ko, J. Appl. Phys., 96, 3763 (2004).
-
(2004)
J. Appl. Phys.
, vol.96
, pp. 3763
-
-
Setiawan, A.1
Vashaei, Z.2
Cho, M.W.3
Yao, T.4
Kato, H.5
Sano, M.6
Miyamoto, K.7
Yonenaga, I.8
Ko, H.J.9
-
11
-
-
0038646291
-
-
E. M. Kaidashev, M. Lorenz, H. von Wenckstern, A. Rahm, H. C. Semmelhack, K. H. Han, G. Benndorf, C. Bundesmann, H. Hochmuth, and M. Grundmann, Appl. Phys. Lett., 82, 3901 (2003).
-
(2003)
Appl. Phys. Lett.
, vol.82
, pp. 3901
-
-
Kaidashev, E.M.1
Lorenz, M.2
Von Wenckstern, H.3
Rahm, A.4
Semmelhack, H.C.5
Han, K.H.6
Benndorf, G.7
Bundesmann, C.8
Hochmuth, H.9
Grundmann, M.10
-
12
-
-
0001605504
-
-
K. Sakurai, D. Iwata, S. Fujita, and S. Fujita, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, 38, 2606 (1999).
-
(1999)
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
, vol.38
, pp. 2606
-
-
Sakurai, K.1
Iwata, D.2
Fujita, S.3
Fujita, S.4
-
13
-
-
0343627966
-
-
H. J. Ko, Y. F. Chen, S. K. Hong, and T. Yao, J. Cryst. Growth, 209, 816 (2000).
-
(2000)
J. Cryst. Growth
, vol.209
, pp. 816
-
-
Ko, H.J.1
Chen, Y.F.2
Hong, S.K.3
Yao, T.4
-
14
-
-
0028443082
-
-
R. P. Joshi, A. N. Dharamsi, and J. McAdoo, Appl. Phys. Lett., 64, 3611 (1994).
-
(1994)
Appl. Phys. Lett.
, vol.64
, pp. 3611
-
-
Joshi, R.P.1
Dharamsi, A.N.2
McAdoo, J.3
-
15
-
-
0002498543
-
-
E. Monroy, F. Calle, J. L. Pau, E. Munz, F. Omǹs, B. Beaumont, and P. Gibart, Phys. Status Solidi A, 185, 91 (2001).
-
(2001)
Phys. Status Solidi A
, vol.185
, pp. 91
-
-
Monroy, E.1
Calle, F.2
Pau, J.L.3
Munz, E.4
Omǹs, F.5
Beaumont, B.6
Gibart, P.7
-
16
-
-
0001044226
-
-
J. C. Carrano, T. Li, P. A. Grudowski, C. J. Eiting, R. D. Dupuis, and J. C. Campbell, J. Appl. Phys., 83, 6148 (1998).
-
(1998)
J. Appl. Phys.
, vol.83
, pp. 6148
-
-
Carrano, J.C.1
Li, T.2
Grudowski, P.A.3
Eiting, C.J.4
Dupuis, R.D.5
Campbell, J.C.6
-
17
-
-
0000189926
-
-
F. D. Auret, S. A. Goodman, M. Hayes, M. J. Legodi, H. A. van Laarhoven, and D. C. Look, Appl. Phys. Lett., 79, 3074 (2001).
-
(2001)
Appl. Phys. Lett.
, vol.79
, pp. 3074
-
-
Auret, F.D.1
Goodman, S.A.2
Hayes, M.3
Legodi, M.J.4
Van Laarhoven, H.A.5
Look, D.C.6
-
18
-
-
11044230955
-
-
Z. X. Mei, Y. Wang, X. L. Du, M. J. Ying, Z. Q. Zeng, H. Zheng, J. F. Jia, Q. K. Xue, and Z. Zhang, J. Appl. Phys., 96, 7108 (2004).
-
(2004)
J. Appl. Phys.
, vol.96
, pp. 7108
-
-
Mei, Z.X.1
Wang, Y.2
Du, X.L.3
Ying, M.J.4
Zeng, Z.Q.5
Zheng, H.6
Jia, J.F.7
Xue, Q.K.8
Zhang, Z.9
-
19
-
-
0000632622
-
-
Y. F. Chen, H. J. Ko, S. K. Hong, and T. Yao, Appl. Phys. Lett., 76, 559 (2000).
-
(2000)
Appl. Phys. Lett.
, vol.76
, pp. 559
-
-
Chen, Y.F.1
Ko, H.J.2
Hong, S.K.3
Yao, T.4
-
20
-
-
18744403360
-
-
C. K. Wang, S. J. Chang, Y. K. Su, Y. Z. Chiou, C. S. Chang, T. K. Lin, H. L. Liu, and J. J. Tang, Semicond. Sci. Technol., 20, 485 (2005).
-
(2005)
Semicond. Sci. Technol.
, vol.20
, pp. 485
-
-
Wang, C.K.1
Chang, S.J.2
Su, Y.K.3
Chiou, Y.Z.4
Chang, C.S.5
Lin, T.K.6
Liu, H.L.7
Tang, J.J.8
-
21
-
-
0035446167
-
-
F. Vigú, E. Tourní, and J. P. Faurie, IEEE J. Quantum Electron., 37, 1146 (2001).
-
(2001)
IEEE J. Quantum Electron.
, vol.37
, pp. 1146
-
-
Vigú, F.1
Tourní, E.2
Faurie, J.P.3
|