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Volumn 106, Issue 8-9, 2006, Pages 637-887

Proceedings of the 7th International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures, Cancun, Mexico, June 5-8, 2005.
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NANOMATERIAL;

EID: 33750721699     PISSN: 03043991     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.