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Volumn 101 A, Issue , 1996, Pages 681-690

Interfacial RhOx/CeO2 sites as locations for low temperature N2O dissociation

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EID: 33750414582     PISSN: 01672991     EISSN: None     Source Type: Book Series    
DOI: 10.1016/s0167-2991(96)80279-5     Document Type: Article
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References (15)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.