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Volumn 48, Issue 3, 1989, Pages 233-236

A novel technique for measuring resistance fluctuations independently of background noise

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06; 07; 61.70

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EID: 33749925128     PISSN: 07217250     EISSN: 14320630     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/BF00619390     Document Type: Article
Times cited : (36)

References (15)
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    • This circuit is available in integrated form (Analog Devices AD 630)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.