Influence of surface treatment on the magnetic properties of Gax Mn1-x As thin films

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 74, Issue 10, 2006, Pages

  Maccherozzi, F ^a   Panaccione, G ^a   Rossi, G ^a,b   Hochstrasser, M ^c   Sperl, M ^d   Reinwald, M ^d   Woltersdorf, G ^d   Wegscheider, W ^d   Back, C H ^d  

^a LABORATORIO TASC   (Italy)

^b UNIVERSITY OF MODENA AND REGGIO EMILIA   (Italy)

^c ETH ZURICH   (Switzerland)

^d UNIVERSITY OF REGENSBURG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 33749344698     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.74.104421     Document Type: Article

References (28)

1. T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, J. Cibert, and D. Ferrand, Science SCIEAS 0036-8075 10.1126/science.287.5455.1019 287, 1019 (2000).
2. S. A. Wolf, D. D. Awschalom, R. A. Buhrman, J. M. Daughton, S. von Molnár, M. L. Roukes, A. Y. Chtchelkanova, and D. M. Treger, Science SCIEAS 0036-8075 10.1126/science.1065389 294, 1488 (2001).
3. T. Dietl, H. Ohno, and F. Matsukura, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.63.195205 63, 195205 (2001).
4. H. Ohno, A. Shen, F. Matsukura, A. Oiwa, A. Endo, S. Katsumoto, and Y. Iye, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.118061 69, 363 (1996);
5. G. Bouzerar, J. Kudrnovský, and P. Bruno, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.68.205311 68, 205311 (2003).
6. K. M. Yu and W. Walukiewicz, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.65.201303 65, 201303 (R) (2002).
7. K. W. Edmonds, P. Bogusławski, K. Y. Wang, R. P. Campion, S. N. Novikov, N. R. S. Farley, B. L. Gallagher, C. T. Foxon, M. Sawicki, T. Dietl, M. B. Nardelli, and J. Bernholc, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.92.037201 92, 037201 (2004).
8. S. J. Potashnik, K. C. Ku, R. Mahendiran, S. H. Chun, R. F. Wang, N. Samarth, and P. Schiffer, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.66. 012408 66, 012408 (2002).
9. P. A. Korzhavyi, I. A. Abrikosov, E. A. Smirnova, L. Bergqvist, P. Mohn, R. Mathieu, P. Svedlindh, J. Sadowski, E. I. Isaev, Yu. Kh. Vekilov, and O. Eriksson, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.88.187202 88, 187202 (2002).
10. M. B. Stone, K. C. Ku, S. J. Potashnik, B. L. Sheu, N. Samarth, and P. Schiffer, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1629376 83, 4568 (2003).
11. K. W. Edmonds, K. Y. Wang, R. P. Campion, A. C. Newmann, N. R. S. Farley, B. L. Gallagher, and C. T. Foxon, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1529079 81, 4991 (2002).
12. M. Malfait, J. Vanacken, V. V. Moschalkov, W. van Roy, and G. Borghs, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1886912 86, 132501 (2005).
13. H. Ohldag, V. Solinus, F. U. Hillebrecht, J. B. Goedkoop, M. Finazzi, F. Matsukura, and H. Ohno, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.126519 76, 2928 (2000).
14. S. Ueda, S. Imada, T. Muro, Y. Saitoh, S. Suga, F. Matsukura, and H. Ohno, Physica E (Amsterdam) PELNFM 1386-9477 10.1016/S1386-9477(01)00084-4 10, 210 (2001).
15. Y. Ishiwata, M. Watanabe, R. Eguchi, T. Takeuchi, Y. Harada, A. Chainani, S. Shin, T. Hayashi, Y. Hashimoto, S. Katsumoto, and Y. Iye, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.65.233201 65, 233201 (2002).
16. K. W. Edmonds, N. R. S. Farley, T. K. Johal, G. van der Laan, R. P. Campion, B. L. Gallagher, and C. T. Foxon, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.71.064418 71, 064418 (2005).
17. K. W. Edmonds, G. van der Laan, A. A. Freeman, N. R. S. Farley, T. K. Johal, R. P. Campion, C. T. Foxon, B. L. Gallagher, and E. Arenholz, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.96.117207 96, 117207 (2006).
18. see http://www.elettra.trieste.it/experiments/beamlines/
19. H. A. Dürr, G. van der Laan, D. Spanke, F. U. Hillebrecht, and N. B. Brookes, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.56.8156 56, 8156 (1997).
20. Y. Huttel, C. M. Teodorescu, F. Bertran, and G. Krill, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.64.094405 64, 094405 (2001).
21. G. Fabricius, A. M. Llois, M. Weissmann, M. A. Khan, and H. Dreyssè, Surf. Sci. SUSCAS 0039-6028 331-333, 1377 (1995).
22. B. T. Thole and G. van der Laan, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.38.3158 38, 3158 (1988).
23. I. T. Yoon, T. W. Kang, K. H. Kim, and D. J. Kim, J. Appl. Phys. JAPIAU 0021-8979 10.1063/1.1861139 97, 063902 (2005).
24. Y. L. Soo, G. Kioseoglou, S. Kim, X. Chen, H. Luo, Y. H. Kao, H. J. Lin, H. H. Hsieh, T. Y. Hou, C. T. Chen, Y. Sasaki, X. Liu, and J. K. Furdyna, Phys. Rev. B PRBMDO 0163-1829 10.1103/PhysRevB.67.214401 67, 214401 (2003).
25. D. J. Keavney, D. Wu, J. W. Freeland, E. Johnston-Halperin, D. D. Awschalom, and J. Shi, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.91. 187203 91, 187203 (2003).
26. U. Welp, V. K. Vlasko-Vlasov, X. Liu, J. K. Furdyna, and T. Wojtowicz, Phys. Rev. Lett. PRLTAO 0031-9007 10.1103/PhysRevLett.90.167206 90, 167206 (2003).
27. J. Okabayashi, M. Mizuguchi, M. Oshima, H. Shimizu, M. Tanaka, M. Yuri, and C. Chen, Appl. Phys. Lett. APPLAB 0003-6951 10.1063/1.1637430 83, 5485 (2003).
28. T. Hayashi, M. Tanaka, T. Nishinaga, H. Shimada, H. Tsuchiya, and Y. Otuka, J. Cryst. Growth JCRGAE 0022-0248 10.1016/S0022-0248(96)00937-2 175, 1063 (1997).