Molecular conductance measurements through printed Au nanodots

Applied Physics Letters

Volumn 89, Issue 11, 2006, Pages

  Jiang, W ^a   Garfunkel, E ^a   Zhitenev, N ^b   Abusch Magder, D ^b   Tennant, D ^b   Bao, Z ^c  

^a RUTGERS UNIVERSITY   (United States)

^b LUCENT TECHNOLOGIES   (United States)

^c Stanford University   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALKANE DITHIOLS; ATOMIC SCALE TOPOGRAPHY; INTERFACIAL BONDS; MOLECULAR CONDUCTANCE;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; DEFORMATION; ELECTRIC CONDUCTANCE; ELECTRON TRANSPORT PROPERTIES; GOLD; SELF ASSEMBLY; SULFUR COMPOUNDS; TOPOLOGY;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

EID: 33748704296     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2345613     Document Type: Article

References (32)

1. X. D. Cui, A. Primak, X. Zarate, J. Tomfohr, O. F. Sankey, A. L. Moore, T. A. Moore, D. Gust, G. Harris, and S. M. Lindsay, Science 294, 571 (2001).
2. X. Y. Xiao, B. Q. Xu, and N. J. Tao, Nano Lett. 4, 267 (2004).
3. L. A. Bumm, J. J. Arnold, T. D. Dunbar, D. L. Allara, and P. S. Weiss, J. Phys. Chem. B 103, 8122 (1999).
4. S. Hong, R. Reifenberger, W. Tian, S. Datta, J. I. Henderson, and C. P. Kubiak, Superlattices Microstruct. 28, 289 (2000).
5. J. G. Kushmerick, D. B. Holt, and J. C. Yang, Phys. Rev. Lett. 89, 86802 (2002).
6. A. Salomon, D. Cahen, S. Lindsay, J. Tomfohr, V. B. Engelkes, and C. D. Frisbie, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 15, 1881 (2003).
7. N. B. Zhitenev, H. Meng, and Z. Bao, Phys. Rev. Lett. 88, 226801 (2002).
8. Y. Selzer, A. Salomon, and D. Cahen, J. Phys. Chem. B 106, 10432 (2002).
9. W. Y. Wang, T. Lee, and M. A. Reed, Phys. Rev. B 68, 35416 (2003).
10. J. M. Beebe, V. B. Engelkes, L. L. Miller, and C. D. Frisbie, J. Am. Chem. Soc. 124, 11268 (2002).
11. A. Vilan, A. Shanzer, and A. Cahen, Nature (London) 404, 166 (2000).
12. C. N. Lau, D. R. Stewart, R. S. Williams, and M. Bockrath, Nano Lett. 4, 569 (2004).
13. K. A. Son, H. I. Kim, and J. E. Houston, Phys. Rev. Lett. 23, 5357 (2001);
14. W. Y. Wang, T. H. Lee, and M. A. Reed, Proc. IEEE 93, 1815 (2005).
15. N. B. Zhitenev, W. R. Jiang, A. Erbe, Z. Bao, E. Garfunkel, D. M. Tennant, and A. Cirelli, Nanotechnology 17, 1272 (2006).
16. Y. L. Loo, R. L. Willett, K. W. Baldwin, and J. A. Rogers, J. Am. Chem. Soc. 124, 7654 (2002).
17. W. R. Jiang, N. B. Zhitenev, Z. Bao, H. Meng, D. Abusch-Magder, D. M. Tennant, and E. Garfunkel, Langmuir 21, 8751 (2005).
18. G. S. Blackman, C. M. Mate, and M. R. Philpott, Phys. Rev. Lett. 65, 2270 (1990);
19. S. A. Joyce, R. C. Thomas, J. E. Houston, T. A. Michalske, and R. M. Crooks, Phys. Rev. Lett. ibid. 68, 2790 (1992);
20. E. Barrena, C. Deal, and M. Salmeron, J. Chem. Phys. 113, 2413 (2000);
21. A. Lio, C. Morant, D. F. Ogletree, and M. Salmeron, J. Phys. Chem. B 101, 4767 (1997).
22. O. Berg and M. Klenerman, J. Appl. Phys. 90, 5070 (2001)
23. F. Eisert, M. Gurka, A. Legant, M. Buck, and M. Grunze, Science 287, 468 (2000);
24. Q. Du, X. D. Xiao, D. Charych, F. Wolf, P. Frantz, Y. R. Shen, and M. Salmeron, Phys. Rev. B 51, 7456 (1995).
25. A. Haran, D. H. Waldeck, R. Naaman, E. Moons, and D. Cahen, Science 263, 948 (1994);
26. G. C. Solomon, J. R. Reimers, and N. S. Husn, J. Chem. Phys. 122, 224502 (2005).
27. B. d. Boer, H. Meng, D. F. Perepichka, J. Zheng, M. M. Frank, Y. J. Chabal, and Z. Bao, Langmuir 19, 4272 (2003).
28. R. G. Nuzzo, L. H. Dubois, and D. L. Allara, J. Am. Chem. Soc. 112, 558 (1990).
29. M. T. Cygan, T. D. Dunbar, J. J. Arnold, L. A. Bumm, N. F. Shedlock, T. P. Burgin, L. Jones, D. L. Allara, J. M. Tour, and P. S. Weiss, J. Am. Chem. Soc. 120, 2721 (1998).
30. Y. Q. Xue, S. Datta, and M. Ratner, J. Chem. Phys. 281, 151 (2002).
31. B. d. Boer, M. M. Frank, Y. J. Chabal, W. R. Jiang, E. Garfunkel, and Z. Bao, Langmuir 20, 1539 (2004).
32. L. Patrone, S. Palacin, J. Charlier, F. Armand, J. P. Bourgoin, H. Tang, and S. Gauthier, Phys. Rev. Lett. 91, 096802 (2003).