Induced water condensation and bridge formation by electric fields in atomic force microscopy

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 110, Issue 30, 2006, Pages 14870-14873

  Sacha, G M ^a   Verdaguer, A ^a   Salmeron, M ^a  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CONDENSATION; ELECTRIC FIELD EFFECTS; ELECTRIC FIELDS; WATER;

BRIDGE FORMATION; INDUCED WATER CONDENSATION; WATER MENISCI;

PHYSICAL CHEMISTRY;

EID: 33748294276     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp061148t     Document Type: Article

References (29)

1. Verdaguer, A.; Sacha, G. M.; Bluhm, H.; Salmeron, M. Chem. Rev. 2006, 106, 1478.
2. Thundat, T.; Zheng, X. Y.; Chen, G. Y.; Warmack, R. J. Surf. Sci. 1993, 294, L939.
3. Morimoto, K.; Araki, K.; Yamashita, K.; Morita, K.; Niwa, M. Appl. Surf. Sci. 1997, 117-118, 652.
4. Dagata J. A.; Pérez-Murano F.; Martín C.; Kuramochi H.; Yokohama H. J. Appl. Phys. 2004, 96, 2393.
5. Finer, R. D.; Zhu, J.; Xu, F.; Hong, S.; Mirkin, C. A. Science 1999, 283, 661.
6. Lee, K.-B.; Park, S.-J.; Mirkin, C. A.; Smith, J. C.; Mrksich, M. Science 2002, 295, 1702.
7. Szoszkiewicz, R.; Riedo, E. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 135502.
8. Szoszkiewicz, R.; Riedo, E. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 033105.
9. Gao, C. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 1801.
10. Valencia, A.; Brinkmann, M.; Lipowsky, R. Langmuir 2001, 17, 3390.
11. de Lazzer, A.; Dreyer, M.; Rath, H. J. Langmuir 1999, 15, 4551.
12. Restagno, F.; Bocquet, L.; Bilben, T. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 2433.
13. Kohonen, M.; Maeda, N.; Christenson, H. K. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 4667.
14. Stifter, T.; Marti, O.; Bhushan, B. Phys. Rev. B 2000, 62, 13667.
15. Gómez-Moñivas, S.; Sáenz, J. J.; Calleja, M.; García, R. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 56101.
16. Jang J.; Schatz G.; Ratner M. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 085504.
17. Paramonov, P. V.; Lyuksyutov, S. F. J. Chem. Phys. 2005, 123, 084705.
18. Capella, B.; Dietler, G. Surf. Sci. Rep. 1999, 34, 1.
19. Finer, R.; Mirkin, C. Langmuir 1997, 13, 6864.
20. Verdaguer, A.; Sacha, G. M.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. J. Chem. Phys. 2005, 123, 124703.
21. Gómez-Moñivas, S.; Sáenz, J. J.; Carminati, R.; Greffet, J. J. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 2955.
22. Gómez-Moñivas, S.; Froufe-Pérez, L. S.; Caamaño, A. J.; Saenz, J. J. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 4048.
23. Jackson, J. D. Classical Electrodynamics; J. Wiley: New York, 1975.
24. García, R.; Calleja, M.; Rohrer, H. J. Appl. Phys. 1999, 86, 1898.
25. Bateni, A.; Susnar, S. S.; Amirfazli, A.; Neumann, A. W. Langmuir 2004, 20, 7589.
26. Israelachvili, J. N. Intermolecular and Surface Forces, 2nd ed.; Academic: New York, 1991.
27. Sacha, G. M.; Verdaguer, A.; Martínez, J.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 123101.
28. Bluhm, H.; Pan, S. H.; Xu, L.; Inoue, T.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. Rev. Sci. Instrum. 1998, 69, 1781.
29. Sader, J. E.; Chon, J. W. M.; Mulvaney, P. Rev. Sci. Instrum. 1999, 70, 3967.