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Volumn 51, Issue 7, 1997, Pages 664-665

Beeinflußbarkeit der lOS-Meßergebnisse durch die Frequenz der Impuls-Applikation und die Anzahl der für die Auswertung verwendeten Stützstellen pro Impuls

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EID: 33748128452     PISSN: 09348387     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.