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Volumn 51, Issue 7, 1997, Pages 664-665
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Beeinflußbarkeit der lOS-Meßergebnisse durch die Frequenz der Impuls-Applikation und die Anzahl der für die Auswertung verwendeten Stützstellen pro Impuls
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Fachbereich 4
(Germany)
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EID: 33748128452
PISSN: 09348387
EISSN: None
Source Type: Journal
DOI: None Document Type: Article |
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