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Volumn 422, Issue 1-2, 2006, Pages

Ce-Cu-Sb system at 670/870 K

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Casting; Electronic transport; Rare earth intermetallics; X ray diffraction

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EID: 33748090264     PISSN: 09258388     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.jallcom.2005.12.010     Document Type: Letter
Times cited : (5)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.