Electrodeless measurement of charge carrier mobility in pentacene by microwave and optical spectroscopy techniques

Journal of Applied Physics

Volumn 100, Issue 2, 2006, Pages

  Saeki, Akinori ^a   Seki, Shu ^a   Tagawa, Seiichi ^a  

^a OSAKA UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHARGE CARRIERS; ELECTRIC CONDUCTANCE; FIELD EFFECT TRANSISTORS; SEMICONDUCTING ORGANIC COMPOUNDS; SINGLE CRYSTALS; SURFACE TREATMENT;

HEXAMETHYLDISILAZANE; THERMAL VAPOR DEPOSITION; TIME-RESOLVED MICROWAVE CONDUCTIVITY (TRMC) MEASUREMENTS;

THIN FILMS;

EID: 33746848051     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2214638     Document Type: Article

References (33)

1. C. D. Dimitrakopoulos and P. R. L. Malenfant, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 14, 99 (2002).
2. R. Ruiz, D. Choudhary, B. Nickel, T. Toccoli, K.-C. Chang, A. C. Mayer, P. Clancy, J. M. Blakely, R. L. Headrick, S. Iannotta, and G. G. Malliaras, Chem. Mater. 16, 4497 (2004).
3. C. D. Dimitrakopoulos, A. R. Brown, and A. J. Pomp, J. Appl. Phys. 80, 2501 (1996).
4. A. J. Salih, S. P. Lau, J. M. Marshall, J. M. Maud, W. R. Bowen, N. Hilal, R. W. Lovitt, and P. M. Williams, Appl. Phys. Lett. 69, 2231 (1996).
5. S. F. Nelson, Y.-Y. Lin, D. J. Gundlach, and T. N. Jackson, Appl. Phys. Lett. 72, 1854 (1998).
6. I. P. M. Bouchoms, W. A. Schoonveld, J. Vrijmoeth, and T. M. Klapwijk, Synth. Met. 104, 175 (1999).
7. S. J. Kang, M. Noh, D. S. Park, H. J. Kim, and C. N. Whang, J. Appl. Phys. 95, 2293 (2004).
8. H. Klauk, M. Halik, U. Zschieschang, G. Schmid, and W. Radlik, J. Appl. Phys. 92, 5259 (2002).
9. T. W. Kelley, L. D. Boardman, T. D. Dunbar, D. V. Muyres, M. J. Pellerite, and T. P. Smith, J. Phys. Chem. B 107, 5877 (2003).
10. Y. Kato, S. Iba, R. Teramoto, T. Sekitani, T. Someya, H. Kawaguchi, and T. Sakurai, Appl. Phys. Lett. 84, 3789 (2004).
11. C. R. Newman, R. J. Chesterfield, M. J. Panzer, and C. D. Frisbie, J. Appl. Phys. 98, 084506 (2005).
12. T. Minari, T. Nemoto, and S. Isoda, J. Appl. Phys. 99, 034506 (2006).
13. O. D. Jurchescu, J. Baas, and T. T. M. Palstra, Appl. Phys. Lett. 84, 3061 (2004).
14. T. Yasuda, T. Goto, K. Fujita, and T. Tsutsui, Appl. Phys. Lett. 85, 2098 (2004).
15. J. M. Warman, G. H. Gelinck, and M. P. de Haas, J. Phys.: Condens. Matter 14, 9935 (2002).
16. A. Saeki, S. Seki, Y. Koizumi, T. Sunagawa, K. Ushida, and S. Tagawa, J. Phys. Chem. B 109, 10015 (2005).
17. J. K. Lee, J. M. Koo, S. Y. Lee, T. Y. Choi, J. Joo, J.-Y. Kim, and J.-H. Choi, Opt. Mater. (Amsterdam, Neth.) 21, 451 (2002).
18. N. Nijegorodov, V. Ramachandran, and D. P. Winkoun, Spectrochim. Acta, Part A 53, 1813 (1997).
19. C. Jundt, G. Klein, B. Sipp, J. Le Moigne, M. Joucla, and A. A. Villaeys, Chem. Phys. Lett. 241, 84 (1995).
20. D. J. van den Heuvel, A. Henstra, T.-S. Lin, J. Schmidt, and W. Th. Wenckebach, Chem. Phys. Lett. 188, 194 (1992).
21. T.-C. Yang, D. J. Sloop, S. I. Weissman, and T.-S. Lin, J. Chem. Phys. 113, 11194 (2000).
22. J. Szczepanski, C. Wehlburg, and M. Vala, Chem. Phys. Lett. 232, 221 (1995).
23. T. M. Halasinski, D. M. Hudgins, F. Salama, L. J. Allamandola, and T. Bally, J. Phys. Chem. A 104, 7484 (2000).
24. S. Hirata, M. Head-Gordon, J. Szczepanski, and M. Vala, J. Phys. Chem. A 107, 4940 (2003).
25. T. Shida and S. Iwata, J. Am. Chem. Soc. 95, 3473 (1973).
26. S. Seki, Y. Koizumi, T. Kawaguchi, H. Habara, and S. Tagawa, J. Am. Chem. Soc. 124, 3251 (2004).
27. J. C. Slater, Rev. Mod. Phys. 18, 441 (1946).
28. E. Suzuki and Y. Hatano, J. Chem. Phys. 84, 4915 (1986).
29. H. Shimamori and T. Sunagawa, J. Chem. Phys. 106, 4481 (1997).
30. J. M. Schins, P. Prins, F. C. Grozema, R. D. Abellón, M. P. de Hass, and L. D. A. Siebbeles, Rev. Sci. Instrum. 76, 084703 (2005).
31. D. B. Toublanc, R. W. Fessenden, and A. Hitachi, J. Phys. Chem. 93, 2893 (1989).
32. J. M. Warman, W. Schuddeboom, S. A. Jonker, M. P. de Hass, M. N. Paddon-Row, K. A. Zachariasse, and J.-P. Launay, Chem. Phys. Lett. 30, 397 (1993).
33. E. A. Silinsh, A. Klimkāns, S. Larsson, and V. Čápek, Chem. Phys. 198, 311 (1995).