Linearly polarized emission of an organic semiconductor nanobelt

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 110, Issue 25, 2006, Pages 12327-12332

  Datar, Aniket ^a   Balakrishnan, Kaushik ^a   Yang, Xiaomei ^a   Zuo, Xiaobing ^b   Huang, Jialing ^a   Oitker, Randy ^a   Yen, Max ^a   Zhao, Jincai ^c   Tiede, David M ^b   Zang, Ling ^a  

^a SOUTHERN ILLINOIS UNIVERSITY   (United States)

^b ARGONNE NATIONAL LABORATORY   (United States)

^c INSTITUTE OF CHEMISTRY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

LIGHT EMISSION; LIGHT POLARIZATION; NEAR FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPY; SELF ASSEMBLY; SEMICONDUCTING ORGANIC COMPOUNDS;

EMISSION POLARIZER; LINEARLY POLARIZED EMISSION; NANOBELTS; PLANAR POLARIZER;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

EID: 33746491578     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp061739j     Document Type: Article

References (32)

1. Schenning, A. P. H. J.; Meijer, E. W. Chem. Commun. 2005, 3245.
2. Grimsdale, A. C.; Mullen, K. Angew. Chem., Int. Ed. 2005, 44, 5592.
3. Hoeben, F. J. M.; Jonkheijm, P.; Meijer, E. W.; Schenning, A. P. H. J. Chem. Rev. 2005, 105, 1491.
4. Wurthner, F. Chem. Commun. 2004, 1564.
5. Nguyen, T.-Q.; Martel, R.; Avouris, P.; Bushey, M. L.; Brus, L.; Nuckolls, C. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 5234.
6. Kastler, M.; Pisula, W.; Wasserfallen, D.; Pakula, T.; Mullen, K. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 4286.
7. Hill, J. P.; Jin, W.; Kosaka, A.; Fukushima, T.; Ichihara, H.; Shimomura, T.; Ito, K.; Hashizume, T.; Ishii, N.; Aida, T. Science 2004, 304, 1481.
8. Friedrich, M.; Wagner, T.; Salvan, G.; Park, S.; Kampen, T. U.; Zahn, D. R. T. Appl. Phys. A 2002, 75, 501.
9. Guillon, D. Struct. Bonding 1999, 95, 41.
10. Small, D.; Zaitsev, V.; Jung, Y.; Rosokha, S. V.; Head-Gordon, M.; Kochi, J. K. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 13850.
11. Crispin, X.; Cornil, J.; Friedlein, R.; Okudaira, K. K.; Lemaur, V.; Crispin, A.; Kestemont, G.; Lehmann, M.; Fahlman, M.; Lazzaroni, R.; Geerts, Y.; Wendin, G.; Ueno, N.; Bredas, J.-L.; Salaneck, W. R. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 11889.
12. Rochefort, A.; Martel, R.; Avouris, P. Nano Lett. 2002, 2, 877.
13. Schmidt, K. Phys. Lett. A 2002, 293, 83.
14. Hoffmann, M.; Schmidt, K.; Fritz, T.; Hasche, T.; Agranovich, V. M.; Leo, K. Chem. Phys. 2000, 258, 73.
15. Newman, C. R.; Frisbie, C. D.; da Silva Filho, D. A.; Bredas, J.-L.; Ewbank, P. C.; Mann, K. R. Chem. Mater. 2004, 16, 4436.
16. Zang, L.; Liu, R.; Holman, M. W.; Nguyen, K. T.; Adams, D. M. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 10640.
17. Holman, M. W.; Liu, R.; Zang, L.; Yan, P.; DiBenedetto, S. A.; Bowers, R. D.; Adams, D. M. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 16126.
18. Xu, B. Q.; Xiao, X.; Yang, X.; Zang, L.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 2386.
19. Li, X.; Xu, B. Q.; Xiao, X.; Yang, X.; Zang, L.; Tao, N. J. Faraday Discuss. 2006, 131, 111.
20. Schmidt-Mende, L.; Fechtenkotter, A.; Müllen, K.; Moons, E.; Friend, R. H.; MacKenzie, J. D. Science 2001, 293, 1119.
21. Forrest, S. R. Chem. Rev. 1997, 97, 1793.
22. Law, K.-Y. Chem. Rev. 1993, 93, 449.
23. Kazmaier, P. M.; Hoffmann, R. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 9684.
24. Struijk, C. W.; Sieval, A. B.; Dakhorst, J. E. J.; van Dijk, M.; Kimkes, P.; Koehorst, R. B. M.; Donker, H.; Schaafsma, T. J.; Picken, S. J.; van de Craats, A. M.; Warman, J. M.; Zuihof, H.; Sudholter, E. J. R. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 11057.
25. Klebe, G.; Graser, F.; Hadicke, E.; Berndt, J. Acta Crystallogr. 1989, B45, 69.
26. Balakrishnan, K.; Datar, A.; Oitker, R.; Chen, H.; Zuo, J.; Zang, L. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 10496.
27. Ahrens, M. J.; Sinks, L. E.; Rybtchinski, B.; Liu, W.; Jones, B. A.; Giaimo, J. M.; Gusev, A. V.; Goshe, A. J.; Tiede, D. M.; Wasielewski, M. R. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 8284.
28. Gregg, B. A. J. Phys. Chem. 1996, 100, 852.
29. Vanden Bout, D. A.; Kerimo, J.; Higgins, D. A.; Barbara, P. F. Acc. Chem. Res. 1997, 30, 204.
30. Hu, J.; Li, L.-S.; Yang, W.; Manna, L.; Wang, L.-W.; Alivisatos, A. P. Science 2001, 292, 2060.
31. Hadicke, E. H.; Graser, F. Acta Crystallogr. 1986, C42, 189.
32. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.; Millam, J. M.; lyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.; Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Kiene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaussian 03; Gaussian: Pittsburgh, PA, 2003.