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Volumn 59, Issue 10, 1986, Pages 3318-3327

Near-field optical-scanning microscopy

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EID: 33746232609     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.336848     Document Type: Article
Times cited : (673)

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    • For earlier attempts of and proposals for subwavelength contact imaging, see the Introduction to Ref. 6.
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    • Piezo Electric Products Inc., 212 Durham Ave., Metuchen, NJ 08840.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.