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Volumn 67, Issue 8, 2006, Pages 1643-1648

X-ray and IR analysis of Cu-Si ferrite

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COPPER; INFRARED RADIATION; POLYCRYSTALLINE MATERIALS; X RAY ANALYSIS;

EID: 33746217854     PISSN: 00223697     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.jpcs.2006.02.013     Document Type: Article
Times cited : (55)

References (27)
  • 17
    • 33746180941 scopus 로고    scopus 로고
    • JCPDS-International Center for Diffraction-Data PCPDFWIN', V.Z. 02, 1000.


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.