Determination of an optimized Alq 3 layer thickness in organic light-emitting diodes by using microcavity effects

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 48, Issue 6, 2006, Pages 1281-1285

  Jung, Boo Young ^a   Hwangbo, Chang Kwon ^a  

^a Inha University   (South Korea)

Author keywords

Microcavity effect; OLED; Optical simulation; Optical thin film

Indexed keywords

EID: 33746077087     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

References (24)

1. C. W. Tang and S. A. Van Slyke, Appl. Phys. Lett. 51, 913 (1987).
2. B. D. Chin, M. C. Suh, S. T. Lee, H. K. Chung and C. H. Lee, Appl. Phys. Lett. 84, 1777 (2004).
3. W. M. V. Wan, N. C. Greenham and R. H. Friend, J. Appl. Phys. 87, 2542 (2000).
4. K. Neyts and P. D. Visschere, J. Opt. Soc. Am. B 17, 114 (2000).
5. Y. Fukuda, T. Watanabe, T. Wakimoto, S. Miyaguchi and M. Tsuchida, Synt. Met. 111-112, 1 (2000).
6. S. K. So, W. K. Choi, L. M. Leung and K. Neyts, Appl. Phys. Lett. 74, 1939 (1999).
7. M. A. Baldo, D. F. O'Brien, Y. You, A. Shoustikov, S. Sibley, M. E. Thompson and S. R. Forrest, Nature 395, 151 (1998).
8. S.-W. Hwang, H.-S. Oh and S.-J. Kang, J. Korean Phys. Soc. 47, 34 (2005).
9. H. S. Oh and H. Y. Cho, J. Korean Phys. Soc. 45, 460 (2004).
10. J. Kido and T. Matsumoto, Appl. Phys. Lett. 73, 2866 (1999).
11. T. Tsutsui, M. Yahiro, H. Uokogawa, K. Kawano and M. Yokoyama, Adv. Mat. 13, 1149 (2001).
12. V. Bulović, V. B. Khalfin, G. Gu, P. E. Burrows, D. Z. Garbuzov and S. R. Forrest, Phys. Rev. B 58, 3730 (1998).
13. V. Cimrová and D. Neher, J. Appl. Phys. 79, 3299 (1996).
14. Y. R. Do, Y.-C. Kim, Y.-W. Song and Y.-H. Lee, J. Appl. Phys. 96, 7629 (2004).
15. H. Riel, S. Karg, T. Beierlein, W. RieB and K. Neyts, J. Appl. Phys. 94, 5290 (2003).
16. M.-H. Lu and J. C. Sturm, J. Appl. Phys. 91, 595 (2002).
17. J.-S. Kim, P. K. H. Ho, N. C. Greenham and R. H. Friend, J. Appl. Phys. 88, 1073 (2000).
18. H. A. Macleod, Thin-Film Optical Filters, 3rd ed. (Institute of Physics Publishing, Bristol and Philadelphia, 2001).
19. G. J. Lee, B. Y. Jung, C. K. Hwangbo and J. S. Yoon, Jpn. J. Appl. Phys. 41, 5241 (2002).
20. T. Shiga, H. Fujikawa and Y. Taga, J. Appl. Phys. 93, 19 (2003).
21. D. G. Deppe, C. Lei, C. C. Lin and D. L. Huffaker, J. Mod. Optics 41, 325 (1994).
22. H. Becker, S. E. Burns, N. Tessler and R. H. Friend, J. Appl. Phys. 81, 2825 (1997).
23. B. Y. Jung, N. Y. Kim, C. H. Lee, C. K. Hwangbo and C. Seoul, Curr. Appl. Phys. 1, 175 (2001).
24. B. Y. Jung, N. Y. Kim, C. H. Lee, C. K. Hwangbo and C. Seoul, Appl. Opt. 41, 3312 (2002).