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Volumn 249, Issue 1-2 SPEC. ISS., 2006, Pages 734-737

Quantitative trace element analysis with sub-micron lateral resolution

Author keywords

PIXE; Sub micron; Trace element analysis

Indexed keywords

DIAPHRAGMS; NEUROLOGY; PIGMENTS; TRACE ANALYSIS;

EID: 33745954564     PISSN: 0168583X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.nimb.2006.03.129     Document Type: Article
Times cited : (16)

References (15)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.