-
1
-
-
0030392181
-
-
Torres, J.; Mermet, J. L.; Madar, R. Microelectron. Eng., 1996, 34: 119
-
(1996)
Microelectron. Eng.
, vol.34
, pp. 119
-
-
Torres, J.1
Mermet, J.L.2
Madar, R.3
-
2
-
-
0037413313
-
-
Brinkley, J. F.; Kirkey, M. L.; Marques, A. D. S.; Lin, C. T. Chem. Phys. Lett., 2003, 367: 39
-
(2003)
Chem. Phys. Lett.
, vol.367
, pp. 39
-
-
Brinkley, J.F.1
Kirkey, M.L.2
Marques, A.D.S.3
Lin, C.T.4
-
3
-
-
0032676645
-
-
Kissine, V. V.; Voroshilov, S. A.; Sysoev, V. V. Thin Solid Films, 1999, 348: 304
-
(1999)
Thin Solid Films
, vol.348
, pp. 304
-
-
Kissine, V.V.1
Voroshilov, S.A.2
Sysoev, V.V.3
-
4
-
-
12844274248
-
-
Cao, G. Y.; Ye, C. N.; Xu, H. H.; Sun, D. L.; Chen, G. R. Acta Phys. -Chim. Sin., 2005, 21(1): 47
-
(2005)
Acta Phys. -Chim. Sin.
, vol.21
, Issue.1
, pp. 47
-
-
Cao, G.Y.1
Ye, C.N.2
Xu, H.H.3
Sun, D.L.4
Chen, G.R.5
-
5
-
-
0346249709
-
-
Dong, X. T.; He, Y.; Yan, J. H.; Xue, B. F. Acta Phys. -Chim. Sin., 2003, 19(12): 1159
-
(2003)
Acta Phys. -Chim. Sin.
, vol.19
, Issue.12
, pp. 1159
-
-
Dong, X.T.1
He, Y.2
Yan, J.H.3
Xue, B.F.4
-
6
-
-
0347375168
-
-
Ding, P. J.; Lanford, W. A.; Hymes, S.; Murarka, S. P. J. Appl. Phys., 1994, 75(7): 3627
-
(1994)
J. Appl. Phys.
, vol.75
, Issue.7
, pp. 3627
-
-
Ding, P.J.1
Lanford, W.A.2
Hymes, S.3
Murarka, S.P.4
-
7
-
-
0001651460
-
-
Ding, P. J.; Wang, W.; Lanford, W. A.; Hymes, S.; Murarka, S. P. Appl. Phys. Lett., 1994, 65(14): 1778
-
(1994)
Appl. Phys. Lett.
, vol.65
, Issue.14
, pp. 1778
-
-
Ding, P.J.1
Wang, W.2
Lanford, W.A.3
Hymes, S.4
Murarka, S.P.5
-
8
-
-
0032606185
-
-
Lee, S. T.; Gao, Z. Q.; Hung, L. S. Appl. Phys. Lett., 1999, 75(10): 1404
-
(1999)
Appl. Phys. Lett.
, vol.75
, Issue.10
, pp. 1404
-
-
Lee, S.T.1
Gao, Z.Q.2
Hung, L.S.3
-
9
-
-
0032680840
-
-
Hua, Z. Y.; Chen, G. R.; Chen, D. Y. IEEE. Trans. Consum. Electron., 1999, 45(1): 97
-
(1999)
IEEE. Trans. Consum. Electron.
, vol.45
, Issue.1
, pp. 97
-
-
Hua, Z.Y.1
Chen, G.R.2
Chen, D.Y.3
-
12
-
-
0039057256
-
-
Chiang, K. T.; Wallace, T. A.; Clark, R. K. Surf. Coat. Technol., 1996, 86-87: 48
-
(1996)
Surf. Coat. Technol.
, vol.86-87
, pp. 48
-
-
Chiang, K.T.1
Wallace, T.A.2
Clark, R.K.3
-
13
-
-
2642514150
-
-
Vermoyal, J. J.; Frichet, A.; Dessemond, L. J. Nucl. Mater., 2004, 328: 31
-
(2004)
J. Nucl. Mater.
, vol.328
, pp. 31
-
-
Vermoyal, J.J.1
Frichet, A.2
Dessemond, L.3
-
14
-
-
0032093702
-
-
Lahiri, S. K.; Singh, N. K. W.; Heng, K. W.; Ang, L.; Goh, L. C. Microelectronics Journal, 1998, 29: 335
-
(1998)
Microelectronics Journal
, vol.29
, pp. 335
-
-
Lahiri, S.K.1
Singh, N.K.W.2
Heng, K.W.3
Ang, L.4
Goh, L.C.5
-
15
-
-
0009150229
-
-
Ponpon, J. P.; Grob, J. J.; Grob, A.; Stuck, R. J. Appl. Phys., 1986, 59(11): 3921
-
(1986)
J. Appl. Phys.
, vol.59
, Issue.11
, pp. 3921
-
-
Ponpon, J.P.1
Grob, J.J.2
Grob, A.3
Stuck, R.4
-
16
-
-
0022703063
-
-
Potember, R. S.; Hoffman, R. C.; Poebler, T. O. John Hopkins APL Tech. Dig., 1986, 7(2): 129
-
(1986)
John Hopkins APL Tech. Dig.
, vol.7
, Issue.2
, pp. 129
-
-
Potember, R.S.1
Hoffman, R.C.2
Poebler, T.O.3
|