Shot noise measurements on a single molecule

Nano Letters

Volumn 6, Issue 4, 2006, Pages 789-793

  Djukic, D ^a   Van Ruitenbeek, J M ^a  

^a LEIDEN UNIVERSITY   (Netherlands)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BENCHMARKING; DEUTERIUM; QUANTUM THEORY; SEMICONDUCTOR JUNCTIONS; SPECTROSCOPIC ANALYSIS;

CONDUCTANCE CHANNEL; CONTACT SPECTROSCOPY; MOLECULAR JUNCTIONS; QUANTUM SUPPRESSION;

SHOT NOISE;

DEUTERIUM; NANOMATERIAL;

ARTICLE; CHEMISTRY; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTROCHEMISTRY; MATERIALS TESTING; METHODOLOGY; SEMICONDUCTOR; SPECTROSCOPY;

DEUTERIUM; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTROCHEMISTRY; MATERIALS TESTING; NANOSTRUCTURES; SEMICONDUCTORS; SPECTRUM ANALYSIS;

EID: 33646449495     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl060116e     Document Type: Article

References (32)

1. Aviram, A.; Ratner, M. A. Chem. Phys. Lett. 1974, 29, 277.
2. Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252.
3. Kergueris, C.; Bourgoin, J.-P.; Palacin, S.; Esteve, D.; Urbina, C.; Magoga, M.; Joachim, C. Phys. Rev. B 1999, 59, 12505.
4. Reichert, J.; Ochs, R.; Beckmann, D.; Weber, H. B.; Mayor, M.; von Löhneysen, H. Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 176804.
5. Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Nagahara, L. A.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 8609.
6. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Burgin, T. P.; Jones, L., II.; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 1996, 271, 1705.
7. Park, J.; Pasupathy, A. N.; Goldsmith, J. I.; Chang, C.; Yaish, Y.; Petta, J. R.; Rinkoski, M.; Sethna, J. P.; Abruña, H. D.; McEuen, P. L.; Ralph, D. Nature 2002, 417, 722.
8. Liang, W.; Shores, M. P.; Bockrath, M.; Long, J. R.; Park, H. Nature 2002, 417, 725.
9. Kubatkin, S.; Danilov, A.; Hjort, M.; Cornil, J.; Brédas, J.-L.; Stuhr-Hansen, N.; Hedegård, P.; Bjørnholm, T. Nature (London) 2003, 425, 698.
10. Xu, B.; Tao, N. J. Science 2003, 301, 1221.
11. García, Y.; Palacios, J. J.; SanFabián, E.; Vergés, J. A.; Pérez-Jiménez, A. J.; Louis, E. Phys. Rev. B 2004, 69, 041402.
12. Cuevas, J. C.; Heurich, J.; Pauly, F.; Wenzel, W.; Schön, G. Nanotechnology 2003, 14, R29.
13. Thygesen, K. S.; Jacobsen, K. W. Phys. Rev. Lett. 2005, 94, 036807.
14. Djukic, D.; Thygesen, K. S.; Untiedt, C.; Smit, R. H. M.; Jacobsen, K. W.; van Ruitenbeek, J. M. Phys. Rev. B 2005, 71, 161402(R).
15. García-Suárez, V. M.; Rocha, A. R.; Bailey, S. W.; Lambert, C.; Sanvito, S.; Ferrer, J. Phys. Rev. B 2005, 72, 045437.
16. Schottky, W. Ann. Phys. (Leipzig) 1918, 57, 541.
17. van der Ziel, A. Noise in Solid State Devices and Circuits; John Wiley & Sons Inc.: New York, 1986.
18. Birk, H.; de Jong, M. J. M.; Shönenberger, C. Phys. Rev. Lett. 1995, 75, 1610.
19. Blanter, Y. M.; Büttiker, M. Phys. Rep. 2000, 336, 2.
20. Reznikov, M.; Heiblum, M.; Shtrikman, H.; Mahalu, D. Phys. Rev. Lett. 1995, 75, 3340.
21. Kumar, A.; Saminadayar, L.; Glattli, D. C.; Jin, Y.; Etienne, B. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 2778.
22. van den Brom, H. E.; van Ruitenbeek, J. M. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 1526.
23. Scheer, E.; Joyez, P.; Esteve, D.; Urbina, C.; Devoret, M. H. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 3535.
24. van den Brom, H. E.; Ph. D. Thesis, Universiteit Leiden, The Netherlands, 2000.
25. Cron, R.; Goffman, M. F.; Esteve, D.; Urbina, C. Phys. Rev. Lett. 2001, 86, 4104.
26. Lesovik, G. B. Sov. Phys. JETP Lett. 1989, 49, 592.
27. Lesovik, G. B., Pis'ma Zh. Eksp. Teor. Fiz. 1989, 49, 513.
28. Smit, R. H. M.; Noat, Y.; Untiedt, C.; Lang, N. D.; van Hemert, M. C.; van Ruitenbeek, J. M. Nature 2002, 419, 906.
29. Agraït, N.; Yeyati, A. L.; van Ruitenbeek, J. M. Phys. Rep. 2003, 377, 81.
30. Yanson, I. K. Zh. Eksp. Tear. Fiz. 1974, 66, 1035.
31. Yanson, I. K., Sov. Phys. JETP 1974, 39506-513.
32. I/G.