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Volumn 55, Issue 3, 2006, Pages 1435-1440

Influence of the stress on the transport behavior of La0.83Sr0.17MnO3 film

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Lattice parameter; Metal insulator transformation temperature; Single crystal silicon; Stress induced

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EID: 33645836341     PISSN: 10003290     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.