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Volumn 16, Issue 1, 2006, Pages

Geometric diagnostics of complex patterns: Spiral defect chaos

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EID: 33645682120     PISSN: 10541500     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2171515     Document Type: Article
Times cited : (8)

References (49)
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    • 0008972147 scopus 로고    scopus 로고
    • W. Pesch, Chaos 6, 348 (1996).
    • (1996) Chaos , vol.6 , pp. 348
    • Pesch, W.1


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.