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Volumn 172, Issue , 2003, Pages 31-40

High resolution (e,2e) measurements using a new toroidal spectrometer

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ELECTRON IMPACT; EXCITATION; REACTION PRODUCTS; TOROIDAL SPECTROMETERS;

EID: 33644539204     PISSN: 09513248     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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    • Ion Source Software, P.O. Box 2726 Idaho Falls, ID 83403 USA
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    • Roentdek GmbH, Kelkheim, Germany
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.