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Volumn 13, Issue 4, 2005, Pages 369-370

Extreme events: The learning loop;Événements extrêmes: Retours d'expérience

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EID: 32644481010     PISSN: 12401307     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1051/nss:2005056     Document Type: Editorial
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.