Sum frequency generation microscopy of microcontact-printed mixed self-assembled monolayers

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 110, Issue 4, 2006, Pages 1807-1813

  Cimatu, Katherine ^a   Baldelli, Steven ^a  

^a University of Houston   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

IMAGING SYSTEMS; MICROSCOPIC EXAMINATION; THIN FILMS;

MICROCONTACT-PRINTED MIXED SELF-ASSEMBLED MONOLAYERS; SFGIM TECHNIQUE; SUM FREQUENCY GENERATION MICROSCOPY; VIBRATIONAL SPECTRUM;

SELF ASSEMBLY;

EID: 32544435144     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0562779     Document Type: Article

References (50)

1. Xia, Y.; Whitesides, G. M. Annu. Rev. Mater. Sci. 1998, 28, 53.
2. Xia, Y.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 1998, 37, 550.
3. Xia, Y.; Zhao, X.-M.; Whitesides, G. M. Microelectron. Eng. 1996, 32, 255.
4. Miller, J. S.; Bethencourt, M. I.; Hahn, M.; Lee, T. R.; West, J. L. Bio Eng. 2005.
5. Lopez, G. P.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1993, 9, 1513.
6. Noy, A.; Frisbie, C. D.; Roznyai, L. F.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 7943.
7. Carpick, R. W.; Salmeron, M. Chem. Rev. 1997, 97, 1163.
8. Kerimo, J.; Adams, D. M.; Barbara, P. F.; Kaschak, D. M.; Mallouk, T. E. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 9451.
9. Vanden Bout, D.; Kerimo, J.; Higgins, D. A.; Barbara, P. F. Acc. Chem. Res. 1997, 30, 204.
10. Wilbur, J. L.; Biebuyck, H. A.; MacDonald, J. C.; Whitesides, G. M. Langmuir 1995, 11, 825.
11. Zhou, Y.; Fan, H.; Fong, T.; Lopez, G. P. Langmuir 1998, 14, 660.
12. Zharnikov, M.; Shaporenko, A.; Paul, A.; Golzhauser, A.; Scholl, A. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 5168.
13. klauser, R.; Hong, I. H.; Wang, S. C.; Zharnikov, M.; Paul, A.; Golzhauser, A.; Terfort, A.; Chuang, T. J. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 13133.
14. Love, J. C.; Estroff, L. A.; Kriebel, J. K.; Nuzzo, R. G.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 2005, in press.
15. Wilbur, J. L.; Kumar, A.; Niebuyck, H.; Kim, E.; Whitesides, G. Nanotechnology 1996, 7, 452.
16. Delamarche, E.; Schmid, H.; Bietsch, A.; Larsen, N. B.; Rothuizen, H.; Michel, B.; Biebuyck, H. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 3324.
17. Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1994, 10, 2790.
18. Larsen, N. B.; Biebuyck, H.; Delamarche, E.; Michel, B. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 3017.
19. Cernusca, M.; Hofer, M.; Reider, G. A. J. Opt. Soc. Am. B 1998, 15, 2476.
20. Florsheimer, M.; Raduge, C.; Salmen, H.; Bosch, M.; Terbrack, R.; Fuchs, H. Thin Solid Films 1996, 284-285, 659.
21. Florsheimer, M.; Bosch, M.; Brillert, C.; Wierschem, M.; Fuchs, H. Adv. Mater. 1997, 9, 1061.
22. Florsheimer, M. Phys. Status Salidi A 1999, 173, 15.
23. Reider, G. A.; Cernusca, M.; Hofer, M. Appl. Phys. B 1999, 65, 343.
24. Smilowitz, L.; Jia, Q. X.; Yang, X.; Li, D. Q.; McBranch, D.; Buelow, S. J.; Robinson, J. M. J. Appl. Phys. 1997, 81, 2051.
25. Florsheimer, M.; Bosch, M.; Brillert, C.; Wierschem, M.; Fuchs, H. J. Vac. Sci. Technol., B 1997, 15, 1564.
26. Potma, E. O.; Xie, X. S.; Muntean, L.; Preusser, J.; Jones, D.; Ye, J.; Leone, S. R.; Hinsberg, W. D.; Schade, W. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 1296.
27. Zumbusch, A.; Holtom, G. R.; Xie, X. S. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 4142.
28. Cheng, J.-x.; Volkmer, A.; Book, L. D.; Xie, X. S. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 1277.
29. Cheng, J.-X.; Xie, X. S. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 827.
30. Cheng, J.-x.; Volkmer, A.; Book, L. D.; Xie, X. S. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 8493.
31. Hoffmann, D. M.; Kuhnke, K.; Kern, K. Rev. Sci. Instrum. 2002, 73, 3221.
32. Kuhnke, K.; Hoffmann, D. M.; Wu, X. C.; Bittner, A. M.; Kern, K. Appl. Phys Lett. 2003, 83, 3830.
33. Florsheimer, M.; Brillert, C.; Fuchs, H. Langmuir 1999, 15, 5437.
34. Florsheimer, M.; Brillert, C.; Fuchs, H. Mater. Sci. Eng., C 1999, 8-9, 335.
35. Hunt, J. H.; Guyot-Sionnest, P.; Shen, Y. R. Chem. Phys. Lett. 1987, 133, 189.
36. Superfine, R.; Guyot-Sionnest, P.; Hunt, J. H.; Kao, C. T.; Shen, Y. R. Surf. Sci. 1988, 200, L445.
37. Superfine, R.; Huang, J. Y.; Shen, Y. R. Chem. Phys. Lett. 1990, 172, 303.
38. Baldelli, S.; Mailhot, G.; Ross, P. N.; Shen, Y. R.; Somorjai, G. A. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 654.
39. Lee, S.; Puck, A.; Graupe, M.; Colorado, R.; Shon, Y.-S.; Lee, T. R.; Perry, S. S. Langmuir 2001, 17, 7364.
40. Baldelli, S. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 6148.
41. Bain, C. D. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1995, 91, 1281.
42. Potterton, E. A.; Bain, C. D. J. Electroanal. Chem. 1996, 409, 109.
43. MacPhail, R. A.; Strauss, H. L.; Snyder, R. G.; Elliger, C. A. J. Phys. Chem. 1984, 88, 334.
44. Snyder, R. G. J. Chem. Phys. 1965, 42, 1744.
45. Snyder, R. G.; Strauss, H. L.; Elliger, C. A. J. Phys. Chem. 1982, 86, 5145.
46. Colthup, N. B.; Daly, L. H.; Wilberley, S. E. Introduction to Infrared and Raman Spectroscopy, 3rd ed.; Academic Press: San Diego, CA, 1990.
47. Ward, R. N.; Duffy, D. C.; Bell, G. R.; Bain, C. D. Mol. Phys. 1996, 88, 269.
48. Bohm, I.; Lampert, A.; Buck, M.; Eisert, F.; Grunze, M. Appl. Surf. Sci. 1999, 141, 237.
49. Bain, C. D.; Davies, P. B.; Ong, T. H.; Ward, R. N. Langmuir 1991, 7, 1563.
50. Hammond, C. The Basics of Crystalography and Diffraction, 1st ed.; Oxford University Press: New York, 1997.