Fabrication and characterization of nanopore-based electrodes with radii down to 2 nm

Nano Letters

Volumn 6, Issue 1, 2006, Pages 105-109

  Krapf, Diego ^a   Wu, Meng Yue ^a   Smeets, Ralph M M ^a   Zandbergen, Henny W ^a   Dekker, Cees ^a   Lemay, Serge G ^a  

^a DELFT UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Netherlands)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTROCHEMISTRY; ELECTRON BEAMS; FABRICATION; GOLD; NANOSTRUCTURED MATERIALS; NITRIDES; PARTICLE SIZE ANALYSIS; SILICON;

GOLD NANOELECTRODES; INSULATING SILICON NITRIDE; NANOPORE-BASED ELECTRODES; THIN SILICON NITRIDE MEMBRANE;

ELECTRODES;

EID: 31544458221     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl052163x     Document Type: Article

References (32)

1. Ralls, K. S.; Buhrman, R. A. Phys. Rev. Lett. 1998, 60, 2434.
2. Ralph, D. C.; Buhrman, R. A. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 2118.
3. Andres, R. P.; Bein, T.; Dorogi, M.; Feng, S.; Henderson, J. I.; Kubiak, C. P.; Mahoney, W.; Osifchin, R. G.; Reifenberger, R. Science 1996, 272, 1323.
4. Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252.
5. Chen, J.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M. Science 1999, 286, 1550.
6. Dadosh, T.; Gordin, Y.; Krahne, R.; Khivrich, I.; Mahalu, D.; Frydman V.; Sperling, J.; Yacoby, A.; Bar-Joseph, I. Nature (London) 2005, 436, 677.
7. Penner, R. M.; Heben, M. J.; Longin, T. L.; Lewis, N. S. Science 1990, 25, 1118.
8. Watkins, J. J.; Chen, J.; White, H. S.; Abruña, H. D. Anal. Chem. 2002, 75, 3962.
9. Chen, S.; Kucernak, A. Electrochem. Commun. 2002, 3, 80.
10. Watkins, J. J.; White, H. S. Langmuir 2004, 20, 5474.
11. Krapf, D.; Wu, M. Y.; Quinn, B.; Zandbergen, H. W.; Dekker, C.; Lemay, S. G. In preparation.
12. Fan, F. R. F.; Bard, A. J. Science 1995, 267, 871.
13. Loeb, G. E.; Peck, R. A.; Martyniuk, J. J. Neurosci. Methods 1995, 63, 175.
14. Qiao, Y.; Chen, J.; Guo, X.; Cantrell, D.; Ruoff, R.; Troy, J. Nanotechnology 2005, 16, 1598.
15. Delvaux, M.; Demoustier-Champagne, S.; Walcarius, A. Electro-analysis 2004, 16, 190.
16. Wu, W.; Huang, W. H.; Wang, W.; Wang, Z. L.; Cheng, J. K.; Xu, T.; Zhang, R. Y.; Chen, Y.; Liut, J. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 8914.
17. Bach, C. E.; Nichols, R. J.; Beckmann, W.; Meyer, H.; Schulte, A.; Besenhard, J. O.; Jannakoudakis, P. D. J. Electrochem. Soc. 1993, 140, 1281.
18. Slevin, C. J.; Gray, N. J.; Macpherson, J. V.; Webb, M. A.; Unwin, P. R. Electrochem. Commun. 1999, 1, 282.
19. Nagahara, L. A.; Thundat, T.; Lindsay, S. M. Rev. Sci. Instrum. 1989, 60, 3128.
20. Shao, Y.; Mirkin, M. V.; Fish, G.; Kokotov, S.; Palanker, D.; Lewis, A. Anal. Chem. 1997, 69, 1627.
21. Ballesteros Katemann, B.; Schuhmann, W. Electroanalysis 2002, 14, 22.
22. Li, J.; Stein, D.; McMullan, C.; Branton, D.; Aziz, M. J.; Golovchenko, J. A. Nature (London) 2001, 412, 166.
23. Storm, A. J.; Chen, J. H.; Ling, X. S.; Zandbergen, H. W.; Dekker, C. Nat. Mater. 2003, 2, 537.
24. (a) Apel, P.; Korchev, Y. E.; Siwy, Z.; Spohr, R.; Yoshida, M. Nucl. Instrum. Methods B 2001, 184, 337.
25. (b) Siwy, Z.; Fulinski, A. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 198103.
26. Wu, M. Y.; Krapf, D.; Zandbergen, M.; Zandbergen, H.; Batson, P. E. Appl Phys. Lett. 2005, 87, 113106.
27. Lemay, S. G.; van der Broek, D. M.; Storm, A. J.; Krapf, D.; Smeets, R. M. M.; Heering, H. A.; Dekker, C. Anal. Chem. 2005, 77, 1911.
28. Malis, T.; Cheng, S. C.; Egerton, R. F. J. Electron Microsc. Tech. 1988, 8, 193.
29. Jonscher, A. K. Nature (London) 1977, 267, 673.
30. Westerlund, S.; Ekstam, L. IEEE Trans. Dielectr. Electr. Insul. 1994, 1, 826.
31. Bard, A. J.; Faulkner, L. R. Electrochemical Methods: Fundamentals and Applications, 2nd ed.; Wiley: New York, 2001.
32. Enculescu, I.; Siwy, Z.; Dobrev, D.; Trautmann, C.; Toimil Molares, M. E.; Neumann, R.; Hjort, K.; Westerberg, L.; Spohr, R. Appl Phys. A 2003, 77, 751.