Adjustment of dielectric properties of glass ceramic composites via crystallization

Glass Science and Technology: Glastechnische Berichte

Volumn 73, Issue 1 SUPPL. C, 2000, Pages 370-373

  Eberstein, M ^a   Schiller, W ^a   Dernovsek, O ^b   Wersing, W ^b  

^a BAM FEDERAL INSTITUTE FOR MATERIALS RESEARCH AND TESTING   (Germany)

^b SIEMENS AG   (Germany)

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EID: 3142729665     PISSN: 09467475     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

References (4)

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