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Volumn 29, Issue 6, 2005, Pages 151-157

Present situation and prospect of process fault diagnosis technique

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Data driven method; Fault diagnosis; Fault identification; Fault prediction

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EID: 30944447318     PISSN: 10005870     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.