Effect of the tube diameter distribution on the high-temperature structural modification of bundled single-walled carbon nanotubes

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 109, Issue 49, 2005, Pages 23358-23365

  Kim, U J ^a   Gutierrez H R ^a   Kim, J P ^b   Eklund, P C ^a  

^a PENNSYLVANIA STATE UNIVERSITY   (United States)

^b Korea Basic Science Institute (KBSI)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COALESCENCE; DIFFUSION; HEAT TREATMENT; SURFACE TREATMENT; VAN DER WAALS FORCES;

GRAPHITIC NANORIBBONS (GNR); MULTIWALL CARBON NANOTUBES (MWNT); SINGLE-WALLED CARBON NANAOTUBES;

CARBON NANOTUBES;

EID: 30544448341     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0541009     Document Type: Article

References (40)

1. Ugarte, D. Nature 1992, 359, 707-709.
2. Banhart, F. Rep. Prog. Phys. 1999, 62, 1181-1221.
3. Hernández, E.; Meunier, V.; Smith, B. W.; Rurali, R.; Terrones, H.; Buongiorno Nardelli, M.; Terrones, M.; Luzzi, D. E.; Charlier, J.-C. Nano Lett. 2003, 3(8), 1037-1042.
4. Terrones, M.; Terrones, H.; Banhart, F.; Charlier, J.-C.; Ajayan, P. M. Science 2000, 288, 1226-1229.
5. Crespi, V. H.; Chopra, N. G.; Cohen, M. L.; Zettl, A.; Louie, S. G. Phys. Rev. B 1996, 54 (8), 5927-5931.
6. Li, J.; Banhart, F. Nano Lett. 2004, 4(6), 1143-1146.
7. Muñoz-Navia, M.; Dorantes-Dávila, J.; Terrones, M.; Hayashi, T.; Kim, Y. A.; Endo, M.; Dresselhaus, M. S.; Terrones, H. Chem. Phys. Lett. 2005, 407, 327-332.
8. Kim, Y. A.; Muramatsu, H.; Hayashi, T.; Endo, M.; Terrones, M.; Dresselhaus, M. S. Chem. Phys. Lett. 2004, 398, 87-92.
9. Endo, M.; Hayashi, T.; Muramatsu, H.; Kim, Y.-A.; Terrones, H.; Terrones, M.; Dresselhaus, M. S. Nano Lett. 2004, 4 (8), 1451-1454.
10. Nikolaev, P.; Thess, A.; Rinzler, A. G.; Colbert, D. T.; Smalley, R. E. Chem. Phys. Lett. 1997, 266, 422-426.
11. Méténier, K.; Bonnamy, S.; Béguin, F.; Journet, C.; Bernier, P.; de La Chapelle, M. L.; Chauvet, O.; Lefrant, S. Carbon 2002, 40, 1765-1773.
12. Yudasaka, M.; Ichihashi, T.; Kasuya, D.; Kataura, H.; Iijima, S. Carbon 2003, 41, 1273-1280.
13. Kis, A.; Csányi, G.; Salvetat, J.-P.; Lee, T.-N.; Couteau, E.; Kulik, A. J.; Benoit, W.; Brugger, J.; Forró, L. Nature Mater. 2004, 3, 153-157.
14. Ericson, L. M.; Fan, H.; Peng, H.; Davis, V. A.; Zhou, W.; Sulpizio, J.; Wang, Y.; Booker, R.; Vavro, J.; Guthy, C.; Parra-Vasquez, A. N. G.; Kim, M. J. ; Ramesh, S.; Saini, R. K.; Kittrell, C.; Lavin, G.; Schmidt, H.; Adams, W. W.; Billups, W. E.; Pasquali, M.; Hwang, W.-F.; Hauge, R. H.; Fischer, J. E.; Smalley, R. E. Science 2004, 305, 1447-1450.
15. Sammalkorpi, M.; Krasheninnikov, A. V.; Kuronen, A.; Nordlund, K.; Kaski, K. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 2005, 228, 142-145.
16. da Silva, A. J. R.; Fazzio, A.; Antonelli, A. Nano Lett. 2005, 5(6), 1045-1049.
17. Åström, J. A.; Krasheninnikov, A. V.; Nordlund, K. Phys. Rev. Lett. 2004, 93(21), 215503.
18. Gutiérrez, H. R.; Kim, U. J.; Kim, J. P.; Eklund, P. C. Nano Lett. 2005, 5(11), 2195-2201.
19. Furtado, C. A.; Kim, U. J.; Gutierrez, H. R.; Pan, L.; Dickey, E. C.; Eklund, P. C. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 6095-6105.
20. Gülseren, O.; Yildirim, T.; Ciraci, S. Phys. Rev. B 2002, 65, 153405.
21. Srivastava, D.; Brenner, D. W.; Schall, J. D.; Ausman, K. D.; Yu, M. F.; Ruoff, R. S. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 4330-4337.
22. Bettinger, H. F. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 6922-6924.
23. López, M. J.; Rubio, A.; Alonso, J. A.; Lefrant, S.; Méténier, K.; Bonnamy, S. Phys. Rev. Lett. 2002, 89 (25), 255501.
24. López, M. J.; Rubio, A.; Alonso, J. A. IEEE Trans. Nanotechnol. 2004, 3 (2), 230-236.
25. Gao, G. H.; Ça'in, T.; Goddard, W. A., III. Nanotechnology 1998, 9, 184-191.
26. Benedict, L. X.; Chopra, N. G.; Cohen, M. L.; Zettl, A.; Louie, S. G.; Crespi, V. H. Chem. Phys. Lett. 1998, 286, 490-496.
27. Iijima, S.; Ajayan, P. M.; Ichihashi, T. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 3100-3103.
28. Koshio, A.; Yudasaka, M.; Iijima, S. Chem. Phys. Lett. 2002, 356, 595-600.
29. Harigaya, K.; Enoki, T. Chem. Phys. Lett. 2002, 351, 128-134.
30. Harigaya, K.; Kobayashi, Y.; Kawatsu, N.; Takai, K.; Sato, H.; Ravier, J.; Enoki, T.; Endo, M. Physica E 2004, 22 (1-3), 708-711.
31. Nakada, K.; Fujita, M.; Dresselhaus, G.; Dresselhaus, M. S. Phys. Rev. B 1996, 54, 17954.
32. Berger, C.; Song, Z.; Li, T.; Li, X.; Ogbazghi, A. Y.; Feng, R.; Dai, Z. ; Marchenkov, A. N.; Conrad, E. H.; First, P. N.; de Heer, W. A. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 19912-19916.
33. Liu, M.; Cowley, J. M. Carbon 1994, 32, 393-403.
34. Cowley, J. M. Microsc. Res. Technol. 1999, 46 (2), 75-97.
35. Elliott, J. A.; Sandler, J. K. W.; Windle, A. H.; Young, R. J.; Shaffer, M. S. P. Phys. Rev. Lett. 2004, 92 (9), 095501.
36. Endo, M.; Kim, Y. A.; Hayashi, T.; Yanagisawa, T.; Muramatsu, H.; Ezaka, M.; Terrones, H.; Terrones, M.; Dresselhaus, M. S. Carbon 2003, 41, 1941.
37. Lim, S.; Yoon, S.-H.; Mochida, I.; Chi, J.-h. J. Phys. Chem. B 2004, 108(5), 1533.
38. Chopra, N. G.; Benedict, L. X.; Crespi, V. H.; Cohen, M. L.; Louie, S. G.; Zettl, A. Nature 1995, 377, 135-138.
39. Tang, T.; Jagota, A.; Hui, C. Y.; Glassmaker, N. J. J. Appl. Phys. 2005, 97, 074310.
40. Kim, Y. A.; Hayashi, T.; Osawa, K.; Dresselhaus, M. S.; Endo, M. Chem. Phys. Lett. 2003, 380, 319-324.