메뉴 건너뛰기





Volumn 54, Issue 12, 2005, Pages 5717-5722

Surface analysis of LiBq4/ITO and LiBq4/CuPc/ITO using atomic force microscopy and x-ray photoelectron spectroscopy

Author keywords

Atomic force microscopy; Electron affinity; X ray photoelectron spectroscopy

Indexed keywords


EID: 30044447550     PISSN: 10003290     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (2)

References (29)
  • Reference 정보가 존재하지 않습니다.

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.