Charge transport effects in field emission from carbon nanotube-polymer composites

Applied Physics Letters

Volumn 87, Issue 26, 2005, Pages 1-3

  Smith, R C ^a   Carey, J D ^a   Murphy, R J ^b   Blau, W J ^b   Coleman, J N ^b   Silva, S R P ^a  

^a UNIVERSITY OF SURREY   (United Kingdom)

^b TRINITY COLLEGE DUBLIN   (Ireland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHARGE TRANSFER; COATINGS; ELECTRIC DISCHARGES; ELECTRIC FIELDS; ELECTRON EMISSION; POLYMER BLENDS;

DISORDERED PERCOLATION NETWORKS; ELECTRON FIELD EMISSIONS; ELECTRON SUPPLY; MULTIWALL ARC DISCHARGE CARBON NANOTUBES;

CARBON NANOTUBES;

EID: 29744462190     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2158023     Document Type: Article

References (16)

1. See, for example, J. E. Jaskie, MRS Bull. 21, 59 (1996).
2. S. Iijima, Nature (London) 354, 56 (1991).
3. J.-M. Bonard, J.-P. Salvetat, T. Stockli, W. A. De Heer, L. Forro, and A. Chatelin, Appl. Phys. Lett. 73, 918 (1998).
4. W. B. Choi, D. S. Chung, J. H. Kang, H. Y. Kim, Y. W. Jin, I. T. Han, Y. H. Lee, J. E. Jung, N. S. Lee, G. S. Park, and J. M. Kim, Appl. Phys. Lett. 75, 3129 (1999).
5. R. C. Smith, J. D. Carey, C. H. P. Poa, D. C. Cox, and S. R. P. Silva, J. Appl. Phys. 95, 3153 (2004).
6. C. H. Poa, S. R. P. Silva, P. C. P. Watts, W. K. Hsu, H. W. Kroto, and D. R. M. Walton, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.1474608 80, 3189 (2002); C. H. P. Poa, R. C. Smith, S. R. P. Silva, P. C. P. Watts, W. K. Hsu, H. W. Kroto, and D. R. M. Walton, J. Vac. Sci. Technol. B 21, 1715 (2003).
7. C. H. Poa, S. R. P. Silva, P. C. P. Watts, W. K. Hsu, H. W. Kroto, and D. R. M. Walton, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.1474608 80, 3189 (2002); C. H. P. Poa, R. C. Smith, S. R. P. Silva, P. C. P. Watts, W. K. Hsu, H. W. Kroto, and D. R. M. Walton, J. Vac. Sci. Technol. B 21, 1715 (2003).
8. R. V. Latham, High Voltage Vacuum Insulation, The Physical Basic (Academic, London, 1981).
9. A. P. Burden, H. E. Bishop, M. Brierley, J. M. Friday, C. Hood, P. G. A. Jones, A. Y. Khazov, W. Lee, R. J. Riggs, V. L. Shaw, and R. A. Tuck, J. Vac. Sci. Technol. B 18, 900 (2000).
10. J. D. Carey, R. D. Forrest, and S. R. P. Silva, Appl. Phys. Lett. 78, 2339 (2001).
11. B. E. Kilbride, J. N. Coleman, J. Fraysse, P. Fournet, M. Cadek, A. Drury, S. Hutzler, S. Roth, and W. J. Blau, J. Appl. Phys. 92, 4024 (2002).
12. R. D. Forrest, A. P. Burden, S. R. P. Silva, and X. Shi, Appl. Phys. Lett. 73, 3784 (1998).
13. L. Nilsson, O. Groening, C. Emmenegger, O. Kuettel, E. Schaller, L. Schlapbach, H. Kind, J.-M. Bonard, and K. Kern, Appl. Phys. Lett. 76, 2071 (2000).
14. M. Foygel, R. D. Morris, D. Anez, S. French, and V. L. Sobolev, Phys. Rev. B 71, 104201 (2005).
15. P. Sheng, E. K. Sichel, and J. I. Gittleman, Phys. Rev. Lett. 40, 1197 (1978).
16. I. Alexandrou, E. Kymakis, and G. A. J. Alexandrou, Appl. Phys. Lett. 80, 1435 (2002).