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Volumn 20, Issue 1, 2005, Pages 32-42

A new approach to near- and mid-infrared process analysis

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EID: 27844604647     PISSN: 08876703     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Review
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.