Reflectron velocity map ion imaging

Review of Scientific Instruments

Volumn 76, Issue 10, 2005, Pages 1-6

  Leskiw, Brian D ^a,b   Kim, Myung Hwa ^a,b,c   Hall, Gregory E ^b   Suits, Arthur G ^a,b,c  

^a WAYNE STATE UNIVERSITY   (United States)

^b BROOKHAVEN NATIONAL LABORATORY   (United States)

^c STONY BROOK UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

REFLECTRON GEOMETRY; TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETERS; VELOCITY MAP ION IMAGING;

IMAGING TECHNIQUES; IONS; MASS SPECTROMETERS; PHOTODISSOCIATION; VELOCITY MEASUREMENT;

REFLECTION;

EID: 27544464325     PISSN: 00346748     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2075167     Document Type: Review

References (26)

1. A. W. Castleman and K. H. Bowen, J. Phys. Chem. 100, 12911 (1996).
2. B. A. Mamyrin, V. I. Karataev, D. V. Shmikk, and V. A. Zagulin, Sov. Phys. JETP 37, 44 (1973).
3. J. S. Pilgrim, C. S. Yeh, K. R. Berry, and M. A. Duncan, J. Chem. Phys. 100, 7945 (1994).
4. P. B. Armentrout and T. Baer, J. Phys. Chem. 100, 12866 (1996).
5. R. A. Zubarev, N. L. Kelleher, and F. W. McLafferty, J. Am. Chem. Soc. 120, 3265 (1998).
6. R. A. Zubarev, Curr. Opin. Biotechnol. 15, 12 (2004).
7. W. J. Griffiths, A. P. Jonsson, S. Y. Liu, D. K. Rai, and Y. Q. Wang, Biochem. J. 355, 545 (2001).
8. D. W. Chandler and P. L. Houston, J. Chem. Phys. 87, 1445 (1987).
9. D. Townsend, S. A. Lahankar, S. K. Lee, S. D. Chambreau, A. G. Suits, X. Zhang, J. Rheinecker, L. B. Harding, and J. M. Bowman, Science 306, 1158 (2004).
10. V. Dribinski, A. Ossadtchi, V. A. Mandelshtam, and H. Reisler, Rev. Sci. Instrum. 73, 2634 (2002).
11. A. T. J. B. Eppink and D. H. Parker, Rev. Sci. Instrum. 68, 3477 (1997).
12. W. C. Wiley and I. H. McLaren, Rev. Sci. Instrum. 26, 1150 (1955).
13. K. Tonokura and T. Suzuki, Chem. Phys. Lett. 224, 1 (1994).
14. D. Chestakov, S.-M. Wu, G. Wu, D. H. Parker, A. T. J. B. Eppink, and T. N. Kitsopoulos, J. Phys. Chem. A 108, 8100 (2004).
15. D. Townsend, M. P. Minitti, and A. G. Suits, Rev. Sci. Instrum. 74, 2530 (2003).
16. J. J. Lin, J. G. Zhou, W. C. Shiu, and K. P. Liu, Rev. Sci. Instrum. 74, 2495 (2003).
17. W. Li, S. D. Chambreau, S. A. Lahankar, and A. G. Suits, Rev. Sci. Instrum. 76, 063106 (2005).
18. S.-K. Tsai, C.-K. Lin, Y. T. Lee, and C.-K. Ni, Rev. Sci. Instrum. 72, 1963 (2001).
19. M. H. Kim, B. D. Leskiw, and A. G. Suits, J. Phys. Chem. A 109, 7839 (2005).
20. D. A. Dahl, Int. J. Mass. Spectrom. 200, 3 (2000).
21. H. Katayanagi and T. Suzuki, Chem. Phys. Lett. 360, 104 (2002).
22. A. M. Rijs, E. H. G. Backus, C. A. de Lange, M. H. M. Janssen, N. P. C. Westwood, K. Wang, and V. Mckoy, J. Chem. Phys. 116, 2776 (2002).
23. M. H. Kim, S. K. Lee, W. Li, and A. G. Suits, Can. J. Chem. (Herzberg Memorial Issue) 82, 880 (2004).
24. A. Fayt, R. Vandenhaute, and J. G. Lahaye, J. Mol. Spectrosc. 119, 233 (1986).
25. A. J. v. d. Brom, T. P. Rakitzis, T. N. v. Heyst, T. N. Kitsopoulos, S. R. Jezowski, and M. H. M. Janssen, J. Chem. Phys. 117, 4255 (2002).
26. A. V. Komissarrov, M. P. Minitti, A. G. Suits, and G. E. Hall, J. Chem. Phys. (submitted).