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Volumn 172, Issue 3, 2005, Pages 163-186

Gauge action improvement and smearing

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SIGNAL TO NOISE RATIO; TOPOLOGY;

EID: 27544434396     PISSN: 00104655     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.cpc.2005.06.011     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.