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Volumn 95, Issue 9, 2005, Pages 160-163

Particle monitoring on the extruder;Partikel-Monitoring am Extruder

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QUALITY MONITORING; REAL-TIME PROCESSES;

EID: 26244442093     PISSN: 09450084     EISSN: None     Source Type: Trade Journal    
DOI: None     Document Type: Review
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    • Patentanmeldung DE 10001701 A1: Fotometer und Verfahren zur Messung und Analyse von Partikeln vom 29.12.2000
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.