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Volumn 29, Issue SPEC. ISS. 1, 2004, Pages 837-855

Recent advances in electron optics and electron microscopy

(1)  Hawkes, Peter a  

a NONE   (France)

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EID: 26244440838     PISSN: 01824295     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Review
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.