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Volumn 20, Issue 3, 2005, Pages 64-69

Research on threshold of early prediction for short circuit fault based on wavelet transform

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Early prediction; Short circuit fault; Threshold; Wavelet transform

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EID: 25844500830     PISSN: 10006753     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.