Characterisation of residence time and residence time distribution in chip reactors with modular arrangements by integrated optical detection

Chemical Engineering Journal

Volumn 101, Issue 1-3, 2004, Pages 373-378

  Gunther M ^a   Schneider, S ^a   Wagner, J ^a   Gorges, R ^c   Henkel, Th ^b   Kielpinski, M ^b   Albert, J ^b   Bierbaum, R ^c   Kohler J M ^a  

^a ILMENAU UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Germany)

^b LEIBNIZ INSTITUTE OF PHOTONIC TECHNOLOGY   (Germany)

^c FRIEDRICH SCHILLER UNIVERSITY JENA   (Germany)

Author keywords

Laminar flow behaviour; Microreactors; Residence time distribution

Indexed keywords

DYES; LAMINAR FLOW; MICROPROCESSOR CHIPS; MICROSTRUCTURE;

RESIDENCE TIME DISTRIBUTION (RTD); TRANSMISSION DETECTION;

CHEMICAL REACTORS;

EXPERIMENTAL MEASUREMENT; REACTOR; RESIDENCE TIME;

EID: 2542505596     PISSN: 13858947     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/j.cej.2003.10.019     Document Type: Article

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