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Volumn 44, Issue 3, 1991, Pages 1442-1445

Interface structure and misfit dislocations in thin Cu films on Ru(0001)

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EID: 24544467271     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.44.1442     Document Type: Article
Times cited : (108)

References (14)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.