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Volumn 138, Issue 2, 1999, Pages 323-326

Electron impact excitation of Si I

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Atomic data; Atomic processes

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EID: 24444450775     PISSN: 03650138     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1051/aas:1999276     Document Type: Article
Times cited : (4)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.