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Volumn 29, Issue 8, 2005, Pages 824-829

FTIR study of C-implanted SiO2 after high-energy Pb-ion irradiation

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Atom mixing; Bonding formation; FTIR spectrum; High energy heavy ion irradiation; Low energy ion implantation; Phase transition

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EID: 23744496747     PISSN: 02543052     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.