SCOPUS 정보 검색 플랫폼

Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers

Volumn 44, Issue 5 B, 2005, Pages 3554-3558

Towards cover-layer incident read-out of a dual-layer disc with a NA = 1.5 solid immersion lens

(5) Verschuren, Coen A a Zup, Ferry a Van Den Eerenbeemd, Jack M A a Van Der Mark, Martin B a Lee, Ju Il a

a PHILIPS RESEARCH LABORATORIES (Netherlands)

Author keywords

Cover layer; Dual layer disc; Near field optical recording; Solid immersion lens

Indexed keywords

APPROXIMATION THEORY; DENSITY (OPTICAL); HIGH DEFINITION TELEVISION; LENSES; LIGHT REFRACTION; MAGNETIC FIELDS; OPTICAL DEVICES; PHASE TRANSITIONS; REFRACTIVE INDEX; SIGNAL TO NOISE RATIO;

COVER-LAYERS; DUAL-LAYER DISC; NEAR FIELD OPTICAL RECORDING; SOLID IMMERSION LENS;

OPTICAL RECORDING;

EID: 23144458643 PISSN: 00214922 EISSN: None Source Type: Journal
DOI: 10.1143/JJAP.44.3554 Document Type: Conference Paper

Times cited : (20)

References (9)

1
- 23144467525
- M. Shinoda, K. Saito, T. Ishimoto, T. Kondo, A. Nakaoki, M. Furuki, M. Takeda, Y. Akiyama, T. Shimouma and M. Yamamoto: Proc. SPIE 5380 (2004) 225.
- (2004) Proc. SPIE , vol.5380 , pp. 225
- Shinoda, M.¹ Saito, K.² Ishimoto, T.³ Kondo, T.⁴ Nakaoki, A.⁵ Furuki, M.⁶ Takeda, M.⁷ Akiyama, Y.⁸ Shimouma, T.⁹ Yamamoto, M.¹⁰

2
- 23144442035
- F. Zijp, M. B. van der Mark, J. I. Lee, C. A. Verschuren, B. H. W. Hendriks, M. L. M. Balistreri, H. P. Urbach, M. A. H. van der Aa and A. V. Padiy: Proc. SPIE 5380 (2004) 222.
- (2004) Proc. SPIE , vol.5380 , pp. 222
- Zijp, F.¹ Van Der Mark, M.B.² Lee, J.I.³ Verschuren, C.A.⁴ Hendriks, B.H.W.⁵ Balistreri, M.L.M.⁶ Urbach, H.P.⁷ Van Der Aa, M.A.H.⁸ Padiy, A.V.⁹

3
- 10044226409
- A. Padiy, B. Yin, C. A. Verschuren, J. I. Lee, R. Vlutters and Th. Jansen: Proc. SPIE 5380 (2004) 56.
- (2004) Proc. SPIE , vol.5380 , pp. 56
- Padiy, A.¹ Yin, B.² Verschuren, C.A.³ Lee, J.I.⁴ Vlutters, R.⁵ Jansen, Th.⁶

4
- 10044247536
- A. H. J. Immink, J. Riani, S. J. L. v. Beneden, J. W. M. Bergmans, M. Ciacci, A. N. Irani, W. M. J. Coene, A. M. van der Lee and D. Bruis: Proc. SPIE 5380 (2004) 90.
- (2004) Proc. SPIE , vol.5380 , pp. 90
- Immink, A.H.J.¹ Riani, J.V.² Beneden, S.J.L.³ Bergmans, J.W.M.⁴ Ciacci, M.⁵ Irani, A.N.⁶ Coene, W.M.J.⁷ Van Der Lee, A.M.⁸ Bruis, D.⁹

5
- 23144434506
- C. A. Verschuren, F. Zijp, J. I. Lee, J. M. A. van den Eerenbeemd, M. B. van der Mark and H. P. Urbach: Jpn. J. Appl. Phys. 44 (2005) 3564.
- (2005) Jpn. J. Appl. Phys. , vol.44 , pp. 3564
- Verschuren, C.A.¹ Zijp, F.² Lee, J.I.³ Van Den Eerenbeemd, J.M.A.⁴ Van Der Mark, M.B.⁵ Urbach, H.P.⁶

6
- 23144441958
- J. I. Lee, M. A. H. van der Aa, C. A. Verschuren, F. Zijp and M. B. van der Mark: Jpn. J. Appl. Phys. 44 (2005) 3423.
- (2005) Jpn. J. Appl. Phys. , vol.44 , pp. 3423
- Lee, J.I.¹ Van Der Aa, M.A.H.² Verschuren, C.A.³ Zijp, F.⁴ Van Der Mark, M.B.⁵

7
- 0033720844
- F. Zijp and Y. V. Martynov: Proc. SPIE 4081 (2000) 21.
- (2000) Proc. SPIE , vol.4081 , pp. 21
- Zijp, F.¹ Martynov, Y.V.²

8
- 5144227246
- J. H. M. Neijzen, E. R. Meinders and H. van Santen: Jpn. J. Appl. Phys. 43 (2004) 5047.
- (2004) Jpn. J. Appl. Phys. , vol.43 , pp. 5047
- Neijzen, J.H.M.¹ Meinders, E.R.² Van Santen, H.³

9
- 23144435781
- A. Kouchiyama, K. Aratani, Y. Takemoto, T. Nakao, S. Kai, K. Osato and K. Nakagawa: Tech. Dig. ISOM/ODS'02 (2002) p. 27.
- (2002) Tech. Dig. ISOM/ODS'02 , pp. 27
- Kouchiyama, A.¹ Aratani, K.² Takemoto, Y.³ Nakao, T.⁴ Kai, S.⁵ Osato, K.⁶ Nakagawa, K.⁷

* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.