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Volumn 30, Issue 13, 2005, Pages 1647-1649

Annular phase-only mask for high focal depth

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DEFOCUS COEFFICIENT; FOCAL DEPTH; PHASE-ONLY MASKS; WAVELENGTH;

EID: 22144480952     PISSN: 01469592     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1364/OL.30.001647     Document Type: Article
Times cited : (39)

References (7)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.