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Volumn 21, Issue 6, 2005, Pages 92-95

Wavelet transform-based multiscale edge detection of dehiscence furrow in Chinese date images

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Chinese date; Edge detection; Image processing; Mathematical morphology; Wavelet transform

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EID: 21844480613     PISSN: 10026819     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.