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Volumn 467-468, Issue PART II, 2001, Pages 1092-1096

Portable high precision small/wide angle X-ray scattering diffractometer

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Data acquisition; Data analysis; Diffractometer; SAXS; Synchrotron radiation

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EID: 21844434266     PISSN: 01689002     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0168-9002(01)00565-4     Document Type: Article
Times cited : (1)

References (4)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.