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Volumn T112, Issue , 2004, Pages 63-67

Trapped ion optical frequency standards

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STANDARDS; ULTRASHORT PULSES;

EID: 21044441985     PISSN: 02811847     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1238/Physica.Topical.112a00063     Document Type: Conference Paper
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    • Minus K Technology, 420 S Hindry Ave, Unit E Inglewood, CA 90301, USA
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.