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Volumn 18, Issue 5, 2005, Pages 27-28

Indium phosphide - Opportunities and challenges
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FERMI LEVEL; HEAT LOSSES; HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTORS; LITHOGRAPHY; MESFET DEVICES; SCHOTTKY BARRIER DIODES; THERMAL CONDUCTIVITY; THRESHOLD VOLTAGE;

EID: 20744460100     PISSN: 09611290     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0961-1290(05)71162-5     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.